[发明专利]一种用于微缺陷的激光超声检测方法无效
申请号: | 201210055740.6 | 申请日: | 2012-03-05 |
公开(公告)号: | CN102608123A | 公开(公告)日: | 2012-07-25 |
发明(设计)人: | 王继锋;王少军;俞厚德;钱耀洲;汤晓英 | 申请(专利权)人: | 上海市特种设备监督检验技术研究院 |
主分类号: | G01N21/88 | 分类号: | G01N21/88;G01N21/49 |
代理公司: | 上海泰能知识产权代理事务所 31233 | 代理人: | 宋缨;孙健 |
地址: | 200062 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 缺陷 激光 超声 检测 方法 | ||
1.一种用于微缺陷的激光超声检测方法,其特征在于,包括以下步骤:
(1)激光探头发出脉冲激光倾斜作用在被测工件上;
(2)将空气耦合探头放置在激光探头的同侧,并垂直对着被测工件表面,调节空气耦合探头与被测工件表面的距离接收因材料缺陷而产生的散射信号;
(3)通过空气耦合探头接收到的散射信号来判断材料中存在的缺陷。
2.根据权利要求1所述的用于微缺陷的激光超声检测方法,其特征在于,所述步骤(3)中利用示波器射频波形上的散射信号波来判断材料中存在的缺陷。
3.根据权利要求1所述的用于微缺陷的激光超声检测方法,其特征在于,所述步骤(3)后还包括将采集到的信号波数据储存于计算机中进行分析,通过信号数据处理得到工件成像图形的步骤。
4.根据权利要求1所述的用于微缺陷的激光超声检测方法,其特征在于,所述步骤(2)中空气耦合探头与被测工件表面的距离在2mm-15mm之间进行调节。
5.根据权利要求1所述的用于微缺陷的激光超声检测方法,其特征在于,所述被测工件的厚度为2mm-50mm之间。
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