[发明专利]基于正、余弦定理算法的平面控制测量方法

权利要求书

1.基于正、余弦定理算法的平面控制测量方法，其特征在于，包括如下步骤：

(1)布点：

在测区内，有已知A、B两个控制点的坐标(x_A，y_A)、(x_B，y_B)，A、B两控制点相互不能通视；在AB两控制点的连线以外加密一个新控制点C，C的坐标设为(x_C，y_C)，C点既能通视A也能通视B；

(2)测量：

运用全站仪的测距功能测AC的距离为b，BC的距离为a；然后再用测回法测得∠ACB的角度；

(3)计算：

a、运用坐标反算的方法求得AB的方位角为α_AB；

b、根据正弦定理计算出∠BAC的角度；

c、根据第a步算出的AB的方位角α_AB以及第b步算出的∠BAC的大小可计算出AC的方位角α_AC；

d、用坐标正算的方法计算出新控制点C的坐标(x_C，y_C)。

2.根据权利要求1所述的基于正、余弦定理算法的平面控制测量方法，其特征在于，还包括校验的步骤：设AB的距离为c，根据余弦定理c²＝a²+b²-2ab·cosC，计算出c的值；根据A、B两点的坐标，运用坐标反算的方法计算出A、B两点的理论距离c′；然后将c的值与c′的值进行比较，若误差大于5mm，则运用全站仪重新测量AC、BC的距离及∠ACB的角度，直到误差小于5mm为止。

3.根据权利要求2所述的基于正、余弦定理算法的平面控制测量方法，其特征在于，运用坐标反算的方法计算出A、B两点的理论距离c′，具体计算公式：

c′=ΔxAB2+ΔyAB2=(xB-xA)2+(yB-yA)2.]]>