[发明专利]一种喷射沉积Si-Al合金电子封装材料的制备工艺无效
申请号: | 201210058570.7 | 申请日: | 2012-03-06 |
公开(公告)号: | CN102534321A | 公开(公告)日: | 2012-07-04 |
发明(设计)人: | 不公告发明人 | 申请(专利权)人: | 上海驰韵新材料科技有限公司 |
主分类号: | C22C21/02 | 分类号: | C22C21/02;C22C1/00 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 喷射 沉积 si al 合金 电子 封装 材料 制备 工艺 | ||
1.一种喷射沉积Si-Al合金电子封装材料的制备工艺,其特征在于:该工艺包括以下步骤:
(1)采用喷射沉积的工艺制备Si-Al合金电子封装材料,合金中Si含量为40-60%,余量为Al,按质量比进行配比熔炼,除气变质处理完后将熔体温度升至1400℃-1500℃,将熔体倾入导流槽,流经漏斗后通过气体雾化器,对合金熔体进行熔体雾化处理,并沉积到喷射沉积设备的接受盘上。喷射沉积的工艺参数为:雾化气体为氮气,雾化压力为0.6-1MPa,熔体熔炼温度为1300℃-1450℃,导流槽和漏斗采用电阻加热温度补偿方法,使之温度保持在1400℃-1500℃,沉积盘的接受距离为650-750mm,得到的喷射沉积坯锭,相对密度达到了95%-98%。
(2)对喷射沉积坯锭进行去皮和端面,并用线切割工艺对坯锭进行切片处理。
(3)将沉积片装入热等静压炉腔中。
(4)将热等静压炉在100-150MPa压力和500℃-550℃温度下保压、保温0.5-3h,冷却后即获得Si-Al合金电子封装材料。
2.根据权利要求1所述的喷射沉积Si-Al合金电子封装材料的制备工艺,其特征在于,所得的喷射沉积Si-Al合金中初生硅相尺寸为6-30um,合金组织致密,没有发现微孔,初生硅相均匀弥散的分布在铝基体中。
3.根据权利要求1或2所述的喷射沉积Si-Al合金电子封装材料的制备工艺,其特征在于,在所述的第四步中,热等静压工艺简单易行。
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