[发明专利]一种用于频率合成器的超低相位噪声基准信号产生装置无效
| 申请号： | 201210058937.5 | 申请日： | 2012-03-07 |
| 公开（公告）号： | CN102611441A | 公开（公告）日： | 2012-07-25 |
| 发明（设计）人： | 李宏宇;沈巧蓉;田云峰;付国良;张冰 | 申请（专利权）人： | 北京无线电计量测试研究所 |
| 主分类号： | H03L7/083 | 分类号： | H03L7/083 |
| 代理公司： | 北京正理专利代理有限公司 11257 | 代理人： | 王德桢 |
| 地址： | 100854 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 用于 频率 合成器 相位 噪声 基准 信号 产生 装置 | ||
1.一种用于频率合成器的超低相位噪声基准信号产生装置，其特征在于：
该基准信号产生装置包晶体振荡器、第一锁相环路和第二锁相环路，其中所述第一锁相环路包括第一鉴相器、第一环路滤波器、压控晶体振荡器，所述第二锁相环路包括第二鉴相器、第二环路滤波器和压控声表振荡器；
所述晶体振荡器输出第一参考信号至第一锁相环路，该第一锁相环路对所述第一参考信号进行分频、比较和滤波输出第二参考信号至第二锁相环路，该第二锁相环路对来自第一锁相环的第二参考信号进行分频、比较和滤波输出基准信号。
2.根据权利要求1所述的一种用于频率合成器的超低相位噪声基准信号产生装置，其特征在于，所述晶体振荡器为10MHz晶体振荡器。
3.根据权利要求2所述的用于频率合成器的超低相位噪声基准信号产生装置，其特征在于，所述压控晶体振荡器为100MHz压控振荡器。
4.根据权利要求3所述的一种用于频率合成器的超低相位噪声基准信号产生装置，其特征在于，所述压控声表振荡器为400MHz压控声表振荡器。
5.根据权利要求4所述的一种用于频率合成器的超低相位噪声基准信号产生装置，其特征在于，所述晶体振荡器产生10MHz参考信号至第一鉴相器A的参考输入端，该第一鉴相器将所述100MHz压控晶体振荡器输出的100MHz反馈信号分频后和10MHz参考信号进行比较并输出误差电压信号，所述第一环路滤波器滤除误差电压信号的高频分量，经过所述第一环路滤波器的误差电压信号输入至所述100MHz压控晶体振荡器的压控端，在误差电压信号的控制下，所述100MHz压控晶体振荡器输出100MHz参考信号，100MHz参考信号作为100MHz反馈信号输入至所述第一鉴相器的比较输入端；所述100MHz参考信号同时作为参考输入信号输入至所述第二鉴相器的参考输入端，所述第二鉴相器将400MHz压控声表振荡器输出的400MHz反馈信号分频后和100MHz参考信号进行比较并输出误差电压信号，所述第二环路滤波器滤除误差电压信号的高频分量，经过所述第二环路滤波器的误差电压信号输入至所述400MHz压控声表振荡器的压控端，在误差电压信号的控制下，所述400MHz压控声表振荡器输出400MHz基准信号，400MHz基准信号同时作为400MHz反馈信号输入至所述第二鉴相器的比较输入端。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京无线电计量测试研究所，未经北京无线电计量测试研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201210058937.5/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
