[发明专利]一种制备p型CuAlO2透明导电薄膜的方法无效
申请号: | 201210059150.0 | 申请日: | 2012-03-08 |
公开(公告)号: | CN102560362A | 公开(公告)日: | 2012-07-11 |
发明(设计)人: | 黄延伟;席俊华;季振国 | 申请(专利权)人: | 杭州电子科技大学 |
主分类号: | C23C14/08 | 分类号: | C23C14/08;C23C14/30 |
代理公司: | 杭州求是专利事务所有限公司 33200 | 代理人: | 杜军 |
地址: | 310018 浙*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 制备 cualo sub 透明 导电 薄膜 方法 | ||
1. 一种制备p型CuAlO2透明导电薄膜的方法,其特征在于该方法包括以下步骤:首先,采用Cu2O和Al2O3为原料,经过人工研磨或机械球磨4小时以上,使之混合均匀,将混合粉末装入压片机在30~50 MPa的压力下保持1~3分钟,制成直径为1.4 cm、厚度为 2.1 mm的圆柱状靶材坯料,将靶材坯料放入刚玉坩埚中盖好后置于单晶炉中,控制温度为1100oC~1200oC烧结10~15小时即得到CuAlO2陶瓷靶材;然后,将烧制好的CuAlO2陶瓷靶材放入电子束蒸发镀膜设备的铜坩埚或碳坩埚内,抽真空至1×10-4Pa以下,在不通入任何反应气体的条件下,进行电子束蒸发镀膜,控制电子束流为20mA~250mA,蒸发时间为5~45 分钟,即得到p型CuAlO2透明导电薄膜。
2.根据权利要求1所述的制备p型CuAlO2透明导电薄膜的方法,其特征在于:Cu2O和Al2O3的纯度应在99.99%以上,经研磨后颗粒粒径为300~500 nm。
3.根据权利要求1所述的制备p型CuAlO2透明导电薄膜的方法,其特征在于:圆柱状靶材坯料烧结制成陶瓷靶直径为1.3 cm,厚度为2 mm。
4.根据权利要求1所述的制备p型CuAlO2透明导电薄膜的方法,其特征在于:在单晶炉中烧结,温度为1150oC,时间为12小时,升温速率为5oC/min,待烧结完成后,自然降温至80oC以下取出。
5.根据权利要求1所述的制备p型CuAlO2透明导电薄膜的方法,其特征在于:p型导电薄膜CuAlO2的简单快速制备,由电子束蒸发镀膜设备制得,将烧制好的CuAlO2陶瓷靶材放入电子束蒸发镀膜设备的铜坩埚或碳坩埚内,以充满坩埚的三分之二为宜,本底真空抽至1×10-4 Pa以下进行薄膜沉积。
6.根据权利要求1所述的制备p型CuAlO2透明导电薄膜的方法,其特征在于:p型CuAlO2导电薄膜的厚度可以通过控制电子束流大小和沉积时间进行调节。
7.根据权利要求1所述的制备p型CuAlO2透明导电薄膜的方法,其特征在于:在进行电子束蒸发镀膜时,以基板为普通玻璃载玻片,所制备的p型CuAlO2导电薄膜的具有一定的透明性,通过调节制备参数可使其透射率达到70%以上。
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