[发明专利]用于产生磁共振图像数据的方法和磁共振断层造影系统有效
申请号: | 201210059241.4 | 申请日: | 2012-03-08 |
公开(公告)号: | CN102670201A | 公开(公告)日: | 2012-09-19 |
发明(设计)人: | A.斯泰莫 | 申请(专利权)人: | 西门子公司 |
主分类号: | A61B5/055 | 分类号: | A61B5/055 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 谢强 |
地址: | 德国*** | 国省代码: | 德国;DE |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 产生 磁共振 图像 数据 方法 断层 造影 系统 | ||
1.一种用于借助磁共振断层造影仪(3)产生检查对象(O)的磁共振图像数据(ND)的方法,
在该方法中,
在磁共振测量期间在磁共振断层造影仪(3)中检查台移动期间使用局部线圈(5)从检查对象(O)的预定的体积区域(V)的多个层(SL)中采集成像原始数据(BR),
基于所述成像原始数据(BR)重建层(SL)的图像数据(BD),
并且然后基于所使用的局部线圈(5)的测量的线圈敏感性数据(SD)进行图像数据(BD)的标准化。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在磁共振测量期间,在敏感性测量(SM)的范围内,采集对于低分辨的局部线圈图像数据(LSB)的原始数据(LSR)和对于低分辨的体积线圈图像数据(VSB)的原始数据(VSR),并且在此基础上确定所述线圈敏感性数据(SD)。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,为了采集对于低分辨的局部线圈图像数据(LSB)的原始数据(LSR)和对于低分辨的体积线圈图像数据(VSB)的原始数据(VSR),对于一层(SL)交替地读出对于低分辨的局部线圈图像数据(LSB)的k空间行和对于低分辨的体积线圈图像数据(VSB)的k空间行。
4.根据权利要求1至3中任一项所述的方法,其特征在于,对于不同的层(SL)在成像原始数据(BR)的成像测量(BM)之间进行敏感性测量(SM)。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,在时间上成组地进行对于特定的层(SL)的敏感性测量(SM)和对于所涉及的层(SL)的成像测量(BM)。
6.根据权利要求1至5中任一项所述的方法,其特征在于,在对于所涉及的层(SL)的成像测量(BM)之前进行对于特定的层(SL)的敏感性测量(SM)。
7.根据权利要求1至4中任一项所述的方法,其特征在于,对于一层(SL)的成像原始数据(BR)的成像测量,在多个子测量(KSM1,KSM2,KSM3)中采集该层(SL)的k空间片段,并且在采集第一k空间片段之前或者在采集最后的k空间片段之后进行对于该层(SL)的敏感性测量(SM)。
8.根据权利要求1至7中任一项所述的方法,其特征在于,对于一层的成像原始数据(BR)的成像测量,在磁共振断层造影仪(5)的测量空间(M)中所定义的测量位置(S1,S2,S3)上在多个子测量(KSM1,KSM2,KSM3)中采集k空间片段,并且在测量空间(M)中的一个测量位置(S0)与一个敏感性测量(SM)对应。
9.根据权利要求1至8中任一项所述的方法,其特征在于,用于确定对于特定的层(SL)的敏感性数据(SM)的原始数据,被至少部分地从所涉及的层(SL)的成像原始数据(BR)中确定。
10.根据权利要求1至9中任一项所述的方法,其特征在于,所述成像原始数据(BR)被垂直于检查台移动方向(R)读出。
11.根据权利要求1至10中任一项所述的方法,其特征在于,在敏感性测量(SM)中进行具有小的翻转角的层激励。
12.根据权利要求1至11中任一项所述的方法,其特征在于,在一层(SL)的敏感性测量(SM)之后,等待一个所定义的最小等待时间,然后采集该层(SL)的成像原始数据(BR)。
13.根据权利要求1至12中任一项所述的方法,其特征在于,所测量的线圈敏感性数据(SD)附加地在平行重建方法的范围内被使用和/或被用于单个线圈图像的复杂组合。
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