[发明专利]一种MOM电容及其制作方法有效

专利信息
申请号: 201210059683.9 申请日: 2012-03-08
公开(公告)号: CN102593107A 公开(公告)日: 2012-07-18
发明(设计)人: 商庆杰;潘宏菽;张力江;付兴昌 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第十三研究所
主分类号: H01L23/64 分类号: H01L23/64;H01L21/02
代理公司: 石家庄国为知识产权事务所 13120 代理人: 夏素霞
地址: 050051 河北省*** 国省代码: 河北;13
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摘要:
搜索关键词: 一种 mom 电容 及其 制作方法
【权利要求书】:

1.一种MOM电容,包括正面金属电极(1)和二氧化硅介质层(2),其特征在于二氧化硅介质层(2)的背面设有两个硅支撑脚,在所述硅支撑脚之间设有背面金属电极(3),背面金属电极(3)的厚度小于硅支撑脚的高度。

2.一种MOM电容的制作方法,其特征在于步骤如下:

步骤一:将硅片(4)高温氧化,氧化温度950°C-1250°C,硅片(4)的上表面形成二氧化硅介质层(2);

步骤二:在二氧化硅介质层(2)的上表面形成MOM电容的正面金属电极(1);

步骤三:在形成的正面金属电极(1)的上表面粘贴透明的蓝宝石基片(5);

步骤四:将硅片(4)减薄;

步骤五:对硅片(4)的背面进行光刻处理;

步骤六:腐蚀光刻掩膜(6)以外的硅,然后去除掩膜(6);

步骤七:采用金属溅射和带胶选择电镀的方法,在硅片(4)内形成MOM电容的背面金属电极(3);

步骤八:去除蓝宝石基片(5),将形成的整片MOM电容片粘在蓝膜上,进行划片,来分隔MOM电容。

3.根据权利要求2所述的一种MOM电容的制作方法,其特征在于所述二氧化硅介质层(2)的厚度为1000?-1.5μm。

4.根据权利要求2所述的一种MOM电容的制作方法,其特征在于所述正面金属电极(1)的厚度为1.5μm-10μm。

5.根据权利要求2所述的一种MOM电容的制作方法,其特征在于所述步骤四为:将硅片(4)减薄至80-120μm。

6.根据权利要求2所述的一种MOM电容的制作方法,其特征在于所述背面金属电极(3)的厚度为1.5μm-15μm。

7.根据权利要求2所示的一种MOM电容的制作方法,其特征在于所述步骤八为:去除蓝宝石基片(5),将形成的整片MOM电容片粘在蓝膜上,采用半导体芯片工艺中常用的金刚刀或砂轮划片来分隔MOM电容。

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