[发明专利]一种石英晶体微天平痕量氨气检测装置无效
申请号: | 201210059762.X | 申请日: | 2012-03-08 |
公开(公告)号: | CN102590008A | 公开(公告)日: | 2012-07-18 |
发明(设计)人: | 郑守国;李淼;张浩东;胡泽林;曾新华;朱泽德;翁士状;尤聚军;高会议;何绵涛 | 申请(专利权)人: | 中国科学院合肥物质科学研究院 |
主分类号: | G01N5/00 | 分类号: | G01N5/00 |
代理公司: | 合肥天明专利事务所 34115 | 代理人: | 奚华保 |
地址: | 230031 安徽省*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 石英 晶体 天平 痕量 氨气 检测 装置 | ||
1.一种石英晶体微天平痕量氨气检测装置,其特征在于:该装置包括敏感QCM传感器和参比QCM传感器,两者分别连接在晶体振荡电路A和晶体振荡电路B中,所述晶体振荡电路A和晶体振荡电路B的信号输出端分别连接测频电路A和测频电路B;并经差频电路和数据采集卡与内置Labview数据采集处理程序的PC机连接;所述敏感QCM传感器为表面涂覆有敏感涂层的石英晶振。
2.如权利要求1所述的痕量氨气检测装置,其特征在于:所述参比QCM传感器为AT切型的6MHz晶振。
3.如权利要求1所述的痕量氨气检测装置,其特征在于:所述晶体振荡电路为并联型谐振电路,所述晶振工作于串联谐振频率和并联谐振频率之间,并且与外接的电容CA1、CA2构成了LG三点式振荡器。
4.如权利要求3所述的痕量氨气检测装置,其特征在于:所述晶体振荡电路的反相器为74HC04。
5.如权利要求1所述的痕量氨气检测装置,其特征在于:所述测频电路采用C8051F34单片机进行频率测量并且利用复杂可编程逻辑器件CPLD进行分频。
6.如权利要求1所述的痕量氨气检测装置,其特征在于:所述差频电路为主要由D触发器构成的简易差频电路,所述敏感QCM 传感器的输出信号和参比QCM 传感器的输出信号分别输入D触发器的D端和触发端Vck。
7.如权利要求1所述的痕量氨气检测装置,其特征在于:所述数据采集卡型号为PCI-1714。
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