[发明专利]一种石英晶体微天平痕量氨气检测装置无效

专利信息
申请号: 201210059762.X 申请日: 2012-03-08
公开(公告)号: CN102590008A 公开(公告)日: 2012-07-18
发明(设计)人: 郑守国;李淼;张浩东;胡泽林;曾新华;朱泽德;翁士状;尤聚军;高会议;何绵涛 申请(专利权)人: 中国科学院合肥物质科学研究院
主分类号: G01N5/00 分类号: G01N5/00
代理公司: 合肥天明专利事务所 34115 代理人: 奚华保
地址: 230031 安徽省*** 国省代码: 安徽;34
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摘要:
搜索关键词: 一种 石英 晶体 天平 痕量 氨气 检测 装置
【权利要求书】:

1.一种石英晶体微天平痕量氨气检测装置,其特征在于:该装置包括敏感QCM传感器和参比QCM传感器,两者分别连接在晶体振荡电路A和晶体振荡电路B中,所述晶体振荡电路A和晶体振荡电路B的信号输出端分别连接测频电路A和测频电路B;并经差频电路和数据采集卡与内置Labview数据采集处理程序的PC机连接;所述敏感QCM传感器为表面涂覆有敏感涂层的石英晶振。

2.如权利要求1所述的痕量氨气检测装置,其特征在于:所述参比QCM传感器为AT切型的6MHz晶振。

3.如权利要求1所述的痕量氨气检测装置,其特征在于:所述晶体振荡电路为并联型谐振电路,所述晶振工作于串联谐振频率和并联谐振频率之间,并且与外接的电容CA1、CA2构成了LG三点式振荡器。

4.如权利要求3所述的痕量氨气检测装置,其特征在于:所述晶体振荡电路的反相器为74HC04。

5.如权利要求1所述的痕量氨气检测装置,其特征在于:所述测频电路采用C8051F34单片机进行频率测量并且利用复杂可编程逻辑器件CPLD进行分频。

6.如权利要求1所述的痕量氨气检测装置,其特征在于:所述差频电路为主要由D触发器构成的简易差频电路,所述敏感QCM 传感器的输出信号和参比QCM 传感器的输出信号分别输入D触发器的D端和触发端Vck。

7.如权利要求1所述的痕量氨气检测装置,其特征在于:所述数据采集卡型号为PCI-1714。

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