[发明专利]液晶屏的RGB接口测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种液晶屏测试方法，尤其涉及一种液晶屏的RGB接口测试方法。

背景技术

液晶显示器为平面超薄的显示设备，它由一定数量的彩色或黑白像素组成，放置于光源或者反射面前方。液晶显示器具有薄型化、功耗低、适用面广等特点，备受工程师青睐。

现有中小尺寸的液晶屏最常用的连接模式，一般是MCU模式和RGB模式，MCU模式控制简单方便，无需时钟和同步信号，但要耗费GRAM，难以做到大屏幕，常用于显示静止图片；RGB模式无需GRAM，传输速度较快，但操作复杂，需要时钟及同步信号控制，常用于显示视频或动画。

现有的液晶屏测试治具采用51单片机设计，系统时钟最高仅达到48MHZ，在测试WVGA的液晶屏时，测试效率大大降低，无法满足生产，随着3G智能手机快速发展，更难以满足客户对移动设备智能化要求，达到快速传输数据和支持高分辨率等要求。

发明内容

本发明的目的在于提供一种液晶屏的RGB接口测试方法，该方法按照MPU模式初始化待测液晶屏，显示数据无需写入DDRAM，直接写入液晶屏，不耗费GRAM，传输速度快，支持高分辨率，满足生产和客户的需求。

为实现上述目的，本发明提供一种液晶屏的RGB接口测试方法，其包括以下步骤：

步骤1、提供测试治具，所述测试治具包括：测试模块、电性相连于该测试模块的控制模块、及电性相连于该测试模块的背光源驱动模块，所述测试模块包括微处理器及电性连接于该微处理器的存储模块，所述存储模块预先烧录有测试程序，所述控制模块包括电性连接于该微处理器的液晶驱动模块，所述液晶驱动模块具有一SPI接口，所述背光源驱动模块电性连接于该微处理器；

步骤2、将待测液晶屏与控制模块及背光源驱动模块电性连接；

步骤3、接通该测试治具电源，微处理器运行测试程序并对电性连接于该微处理器的背光源驱动模块及液晶驱动模块进行检测；

步骤4、若该微处理器检测到背光源驱动模块或液晶驱动模块异常，则发出报警提示，若该微处理器检测到背光源驱动模块及液晶驱动模块无异常，则对背光源驱动模块及液晶驱动模块进行初始化；

步骤5、微处理器控制背光源驱动模块驱动液晶屏的背光源工作，所述液晶驱动模块根据该微处理器传送过来的控制命令，通过该SPI接口按照MCU模式初始化待测液晶屏；

步骤6、所述液晶驱动模块将所述微处理器的传送过来的测试信号直接传送给待测待测液晶屏，所述待测液晶屏根据该测试信号显示对应图像；

步骤7、判断图像是否异常，无异常，则该待测液晶屏为合格，异常，则该待测液晶屏为不合格。

所述测试治具设有一JTAG接口，该JTAG接口电性连接于该存储模块，通过该JTAG接口将测试程序烧录到测试模块的存储模块中。

所述步骤6中待测液晶屏根据测试信号依次显示黑、白、红、绿、蓝、灰阶、彩色图像。

所述测试治具还包括一接口模块及一蜂鸣器，该接口模块与背光源驱动模块及控制模块电性连接，测试时该待测液晶屏安装及电性连接于该接口模块上，该蜂鸣器电性连接于所述微处理器。

所述步骤7中图像无异常，该微处理器发出该待测液晶屏合格的信号，所述信号为该待测液晶屏显示PASS画面及蜂鸣器发出合格提示音。

所述测试治具还设有一电性连接于所述微处理器的中断开关，当所述步骤7中图像异常时，通过该中断开关中断待测液晶屏上图像的转换，以便对该异常画面进行分析。

所述测试治具数据传输位为8位、16位或18位。

所述待测液晶屏初始化后，该微处理器通过控制模块不停地往待测液晶屏写数据。

所述测试模块为LPC2138芯片，所述控制模块为SSD1963芯片。

所述背光源驱动模块为CP2123芯片

本发明的有益效果：本发明提供的液晶屏的RGB接口测试方法，其通过把液晶屏直接接在存储器的总线上，并按照MCU模式初始化待测液晶屏，显示数据不写入DDRAM，直接写屏，不耗费GRAM，数据传输速度快，测试速度快，还支持高分辨率，容易做到大屏。

为了能更进一步了解本发明的特征以及技术内容，请参阅以下有关本发明的详细说明与附图，然而附图仅提供参考与说明用，并非用来对本发明加以限制。

附图说明

下面结合附图，通过对本发明的具体实施方式详细描述，将使本发明的技术方案及其它有益效果显而易见。

附图中，

图1为本发明液晶屏的RGB接口测试方法的流程图；