[发明专利]一种测量天线罩任意位置插入损耗的方法有效
申请号: | 201210062979.6 | 申请日: | 2012-03-12 |
公开(公告)号: | CN102590616A | 公开(公告)日: | 2012-07-18 |
发明(设计)人: | 秦顺友;武震东;梁赞明;杜彪;张文静;邹火儿;杜晓恒;王聚亮;任冀南;张志华;秦光远;李光 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第五十四研究所 |
主分类号: | G01R23/16 | 分类号: | G01R23/16 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 050081 河北省石家*** | 国省代码: | 河北;13 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 测量 天线罩 任意 位置 插入损耗 方法 | ||
技术领域
本发明涉及雷达天线罩、船载天线罩和卫星通信地面站天线罩等,特别适用于天线罩任意位置的插入损耗测量。
背景技术
天线罩是用来保护天线的一种介质外壳,使天线避免在各种恶劣环境下可能造成的损坏,其应用十分广泛。如雷达天线罩、船载天线罩、卫星通信地面站天线罩等。插入损耗是天线罩的最重要技术指标之一,通常用远场法测量天线在带罩和不带罩的情况下,天线接收的信号功率电平,从而确定天线罩的插入损耗。该方法测量天线罩插入损耗存在以下局限性:
1、传统的远场法测量天线罩的插入损耗,由于收发天线对准时仰角是一定的,因此测量的天线罩插入损耗为某一仰角的局部插入损耗,无法测量天线罩任意位置的插入损耗;
2、天线罩的插入损耗很小,利用常规的远场法进行测量,由于天线架设高度的限制,地面反射不可避免的,从而影响了天线罩插入损耗的测量精度;
3、传统的远场法测量天线罩插入损耗,测试系统和测量方法复杂。
发明内容
本发明的目的在于避免上述背景技术中的不足之处而提出一种测量天线罩任意位置插入损耗的方法。该方法利用Y因子法,分别测量天线在带罩和不带罩的情况下天线噪声温度,计算天线罩引起的剩余噪声温度,从而确定待测天线罩的插入损耗。
一种测量天线罩任意位置插入损耗的方法,包括步骤:
(1)测量天线在带罩和不带罩的情况下,天线的噪声温度Tan和Tan′,由测量的Y因子,利用下式计算天线噪声温度:
式中:
Tan-天线带罩情况下的噪声温度;
T0-常温负载的噪声温度;
TLNA-低噪声放大器的噪声温度;
Yy-天线带罩时测量的Y因子;
Tan′-天线不带罩情况下的噪声温度;
Yn-天线不带罩时测量的Y因子。
(2)计算天线罩引起的天线剩余噪声温度ΔT:
ΔT=Tan-Tan′
(3)计算天线罩的插入损耗IL:由测量的天线罩引起的天线剩余噪声温度ΔT,用下式计算天线罩的插入损耗:
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国电子科技集团公司第五十四研究所,未经中国电子科技集团公司第五十四研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201210062979.6/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:活梯
- 下一篇:氦气检漏试验装置及方法