[发明专利]用于轨道平顺性检测的二维锁相测量装置

权利要求书

1.用于轨道平顺性检测的二维锁相测量装置，其特征在于：由双频激光光源部分，参考光路部分，横向不平顺测量光路部分以及垂向不平顺测量光路部分组成；其中横向不平顺测量光路包括平面反射镜A1(8)，平面反射镜A2(9)，偏振分光棱镜B(13)，1/4波片B1(14)，1/4波片B2(15)，转台B1(16)，平面反射镜B1(17)，传动带B(18)，50％分光棱镜B(19)，转台B2(20)，平面反射镜B2(21)，会聚透镜组B(12)，检偏器B(11)，探测器B(10)；垂向不平顺测量光路包括偏振分光棱镜C(30)，1/4波片C1(24)，1/4波片C2(26)，平面反射镜C1(22)，平面反射镜C2(29)，转台C1(23)，转台C2(28)，传动带C(27)，50％分光棱镜C(25)，会聚透镜组C(31)，检偏器C(32)，探测器C(33)。

2.根据权利要求1所述的用于轨道平顺性检测的二维锁相测量装置，其特征在于：所述的横向不平顺测量光路中，平面反射镜B1(17)和平面反射镜B2(21)分别固定在转台B1(16)和转台B2(20)上，两转台由传动带B(18)连接并由电机驱动使经过偏振分光棱镜(13)后的反射和透射光形成共焦点对称双扫描光路，使从50％分光棱镜B(19)出射的两束不同频率的正交圆偏振光沿整个测量装置的中心平面对称，在水平面内分开一定角度，形成两束横向不平顺测量光束。

3.根据权利要求1所述的用于轨道平顺性检测的二维锁相测量装置，其特征在于：所述的垂向不平顺测量光路在原理上与横向不平顺测量光路相同，只是出射的两束不同频率的正交圆偏振光在铅垂方向上分开一定角度，形成两束垂向不平顺测量光束。

4.根据权利要求1所述的用于轨道平顺性检测的二维锁相测量装置，其特征在于：所述的横向不平顺测量光路和垂向不平顺测量光路共用同一光源，外差干涉测量时采用同一参考信号。

5.根据权利要求1所述的用于轨道平顺性检测的二维锁相测量装置，其特征在于：可广泛应用于高精度超长轨道直线度测量，大型水坝的变形监测，基于双频激光干涉技术的大口径非球面检测，地铁轨道的维护和检测等精密测量领域。