[发明专利]试剂制备装置、试剂制备方法及样本处理装置

说明书

 技术领域

本发明涉及一种能够制备样本处理中所用的试剂的试剂制备装置、试剂制备方法、以及样本处理装置。

背景技术

过去，比如美国专利申请公报（U.S.Patent Application Publication）No.2010/0248289上公开了一种试剂制备装置，在该试剂制备装置中，在混合室中混合一定量的高浓度试剂和一定量的纯水，以此制备样本处理中所用的试剂。这种试剂制备装置用电导率仪测量制备的试剂的质量（电导率），当试剂的电导率在一定范围内时，就向供应室移送制备的试剂。另一方面，当试剂的电导率超出一定范围时，上述试剂制备装置从废弃流路废弃掉所制备的试剂。

本发明人发现，如上所述，试剂的质量（电导率）超出一定范围的原因有：装置内的阀、泵等硬件的故障引起的持续性异常；以及混合至高浓度试剂的纯水的暂时性的水质变化和外部静电等引起的暂时性异常。

当出现持续性异常时，往往必须对发生故障的硬件进行修理才能消除异常。如果对其置之不理继续制备试剂的话，只会增加试剂的废弃量，从增加环境负担和运行成本的观点来看，不宜采纳。另一方面，当出现了暂时性异常时，往往只需进行一至数次试剂制备作业之后，异常便会自然消失，因此可以继续进行试剂的制备作业，以减少不能制备试剂的时间，从而可以避免装置的工作效率降低下。

本发明有鉴于此，其目的之一是提供以下内容：当发生了暂时性异常和持续性异常时，能够防止装置的工作效率降低，同时减少试剂的废弃量的试剂制备装置、试剂制备方法、及样本处理装置。

发明内容

本发明的范围只由后附权利要求书所规定，在任何程度上都不受这一节发明内容的陈述所限。

即，本发明提供以下内容：

（1）一种试剂制备装置，包括：试剂制备部件，用于制备在样本处理中所用的试剂；测量部件，用于测量上述试剂制备部件制备的试剂的特性；废弃部件，用于废弃上述测量部件的测量结果不符合一定条件的试剂；及控制部件，用于控制上述试剂制备部件的试剂制备作业，其中，当上述测量部件的测量结果不符合上述一定条件的次数达到指定的复数次时，所述控制部件停止上述试剂制备部件的试剂制备作业。

（2）如（1）所述的试剂制备装置，其中：每当所述试剂制备部件制备试剂时，所述控制部件都判断所述测量部件的测量结果是否符合所述一定条件。

（3）如（1）所述的试剂制备装置，其中：当所述测量部件的测量结果连续地不符合所述一定条件的次数达到所述指定的复数次时，所述控制部件停止所述试剂制备部件的试剂制备作业。

（4）如（1）～（3）其中任意一项所述的试剂制备装置，其中：当所述测量部件的测量结果不符合所述一定条件、且出现以下任意一种情况时，所述控制部件停止所述试剂制备部件的试剂制备作业：（a）当所述测量部件的测量结果符合用于表示试剂不适于样本处理的程度为第一等级的条件的次数达到所述指定的复数次时，也就是达到第一次数时；及（b），当所述测量部件的测量结果符合用于表示试剂不适于样本处理的程度为高于上述第一等级的第二等级的条件的次数达到比上述第一次数少的指定的第二次数时。

（5）如（4）所述的试剂制备装置，其中：每当所述测量部件的测量结果符合以下条件时，所述控制部件就停止所述试剂制备部件的试剂制备作业：表示所述第二等级的条件。

（6）如（4）所述的试剂制备装置，其中：当所述测量部件的测量结果不在第一数值范围内时，所述控制部件就判断为所述测量部件的测量结果不符合所述一定条件；当所述测量部件的测量结果在不同于第一数值范围的第二数值范围内时，所述控制部件就判断为所述测量部件的测量结果符合以下条件：表示所述第一等级的条件；当所述测量部件的测量结果在不同于第一、第二数值范围的第三数值范围内时，所述控制部件就判断为所述测量部件的测量结果符合以下条件：表示所述第二等级的条件。

（7）如（1）～（3）其中任意一项所述的试剂制备装置，其中：当所述测量部件的测量结果不符合所述一定条件的次数达到所述指定的数次时，所述控制部件停止所述试剂制备部件的试剂制备作业，并根据用户的指示，让所述试剂制备部件实施还原作业，以便重新开始试剂制备作业。

（8）如（1）～（3）其中任意一项所述的试剂制备装置，包括：显示部分，其中，当所述试剂制备部件的试剂制备作业因所述测量部件的测量结果而连续停止指定次数、即连续停止第三次数时，所述控制部件控制所述显示部分显示警告信息，该警告信息表示所述试剂制备部件很可能发生了故障。