[发明专利]印制板多路信号测试方法、系统及装置有效

专利信息
申请号: 201210065355.X 申请日: 2012-01-13
公开(公告)号: CN103207367A 公开(公告)日: 2013-07-17
发明(设计)人: 欧阳本铖 申请(专利权)人: 迈普通信技术股份有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 成都虹桥专利事务所(普通合伙) 51124 代理人: 李顺德
地址: 610041 四川省*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 印制板 信号 测试 方法 系统 装置
【说明书】:

技术领域

发明涉及数据通信领域的技术,特别涉及采用示波器进行印制板信号完整性测试的技术。

背景技术

随着网络时代的到来,人们对网络设备的需求也越来越大,不管是路由器、交换机、语音设备都被大量的运用在各个场合。网络设备的产量正在飞快增长。当然,用户对网络设备的稳定性,质量也都提出了更高的要求。因此,对于网络设备的生产厂商,如何实现低成本、高效率、高质量的印制板的信号完整性测试成为了产品质量的有力保证。

印制板的信号完整性测试根据信号线的多少可分为单路信号完整性测试和多路信号完整性组合测试。对于多路信号组合测试早期常用的方法是使用逻辑分析仪来完成测试,但是由于逻辑分析仪受带宽限制,对多路高速信号的处理已经无能为力。因此,当前对多路信号的测试大都使用有多个探头加多路通道的高速示波器。其测试步骤如下:1,由测试工程师使用多个探头在印制板上找到相应的多路信号送到示波器进行采集;2,使用示波器的逻辑触发功能对信号的有效性进行判断,再在示波器上进行数据的呈现和记录。完成上述测试过程需要具备多个通道以及多个探头的示波器。由于多通道示波器本身昂贵,且示波器的一个单端探头也价值不菲,带来了高昂的测试成本,同时进行多路信号组合测试也需要不断的更换印制板的测试点,测试效率较低。

发明内容

本发明提供一种使用单一探头示波器的印制板多路信号测试方法,克服目前采用多通道和/或多探头示波器测试成本非常高的缺点。

本发明提供一种使用单一探头示波器的印制板多路信号测试系统,克服目前采用多通道和/或多探头示波器测试成本非常高的缺点。

本发明还提供一种印制板多路信号测试装置,配合单一探头示波器对被测印制板进行测试,克服目前采用多通道和/或多探头示波器测试成本非常高的缺点。

为达到上述目的,本发明的技术方案是这样实现的:

一种印制板多路信号测试方法,包括:

将被测印制板的信号端通过多根等长金属导线连接测试装置,将测试装置通过同轴电缆连接示波器,示波器的探头连接被测印制板的测试点;

测试装置对被测印制板的多路信号进行逻辑选择,并经逻辑处理和信号整合后,输出单一逻辑信号到示波器;

示波器在判断输入的所述单一逻辑信号有效后,对探头所测试的测试点信号进行测试处理并显示。

优选地,所述将被测印制板的信号端通过多根等长金属导线连接测试装置的方法为,将连接被测印制板的信号端的多根等长金属导线通过焊接固定在测试装置上。

优选地,测试装置对被测印制板的多路信号进行逻辑选择的方法为,测试用户根据测试时序逻辑,利用测试装置在被测印制板的多路信号中选择需逻辑处理的信号。

一种印制板多路信号测试系统,包括:被测印制板、测试装置和具备至少一个探头的示波器;所述被测印制板的信号端通过多根等长金属导线连接测试装置,测试装置通过同轴电缆连接示波器,示波器的探头连接被测印制板的测试点;

所述测试装置,用于对被测印制板的多路信号进行逻辑选择,并经逻辑处理和信号整合后,输出单一逻辑信号到示波器;

所述示波器,用于接收由测试装置输入的所述单一逻辑信号,并判断所述单一逻辑信号有效后,对探头所测试的测试点信号进行处理并显示。

优选地,所述金属导线的直径大于8mil。

优选地,所述同轴电缆的阻抗为50欧姆。

优选地,所述多路信号为多路控制信号。

一种印制板多路信号测试装置,包括:多路信号接收单元、逻辑选择单元、逻辑处理单元和信号发送单元;

所述多路信号接收单元,用于接收被测电路板的多路信号;

所述逻辑选择单元,用于根据测试用户的测试时序逻辑,对被测印制板的多路信号进行逻辑选择;

所述逻辑处理单元,用于根据逻辑选择单元的逻辑选择结果,将所述多路信号进行整合为单一逻辑信号;

所述信号发送单元,用于发送所述单一逻辑信号到示波器。

优选地,所述信号发送单元还用于在发送所述单一逻辑信号之前,对多数单一逻辑信号进行整形处理。

优选地,所述整形处理是指信道的滤波和/或阻抗的匹配。

本发明的有益效果是,通过上述示波器使用单一探头的印制板多路信号测试方法、系统及装置,可以仅采用单一探头的示波器对印制板的多路信号进行测试,可以在有限的示波器探头和通道下测试更多路的信号,也无需频繁更换多路信号的连接,在降低测试成本同时,提高了测试效率,保证了测试质量。

附图说明

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