[发明专利]光学装置及应用该光学装置的影像测量仪

说明书

一种光学装置，该光学装置包括图案光模组及同轴光模组，所述图案光装置包括依次设置的图案光源及图案片，该同轴光模组包括同轴光源，所述同轴光源所发射的光线用以照射至所述待测工件的表面，该图案光源与该同轴光源错开设置，且该图案光源发射的图案光与该同轴光源发射的同轴光相互交叉，该光学装置还包括第一半透半反射镜，该第一半透半反射镜设于所述图案光与同轴光的交叉处，该半透半反射镜将该图案光源发射的图案光与该同轴光源发射的同轴光汇合在同一直线后，照射于所述待测工件的表面。本发明还提供一种应用上述光学装置影像测量仪。

技术领域

本发明涉及一种光学装置，尤其涉及一种应用于影像测量仪的光学装置。

背景技术

影像测量仪是一种非接触式的三维测量设备，具有柔性好、快速高效的优点，其包括一图像撷取装置及一光学装置，所述光学装置用于对待测工件进行光学成像，所述图像撷取装置用来感应待测工件的影像。但是，当所述待测工件表面的光滑度非常高的时候，比如一光滑的玻璃片，所述光学装置将很难对所述待测工件进行光学成像，此时则无法对所述待测工件进行测量。

发明内容

有鉴于此，有必要提供一种可以对表面光滑度高的待测工件进行对焦的光学装置。

此外，还有必要提供一种应用上述光学装置的影像测量仪。

一种光学装置，该光学装置包括图案光模组及同轴光模组，所述图案光装置包括依次设置的图案光源及图案片，该同轴光模组包括同轴光源，所述同轴光源所发射的光线用以照射至所述待测工件的表面，该图案光源与该同轴光源错开设置，且该图案光源发射的图案光与该同轴光源发射的同轴光相互交叉，该光学装置还包括第一半透半反射镜，该第一半透半反射镜设于所述图案光与同轴光的交叉处，该半透半反射镜将该图案光源发射的图案光与该同轴光源发射的同轴光汇合在同一直线后，照射于所述待测工件的表面。

一种影像测量仪，包括光学装置及影像攫取装置，该光学装置包括图案光模组及同轴光模组，所述图案光装置包括依次设置的图案光源及图案片，该同轴光模组包括同轴光源，所述同轴光源所发射的光线用以照射至所述待测工件的表面，所述影像攫取装置用于感应所述待测工件的影像并将所感应的影像转换为电信号以传输给一电脑系统进行处理，该图案光源与该同轴光源错开设置，且该图案光源发射的图案光与该同轴光源发射的同轴光相互交叉，该光学装置还包括第一半透半反射镜，该第一半透半反射镜设于所述图案光与同轴光的交叉处，该半透半反射镜将该图案光源发射的图案光与该同轴光源发射的同轴光汇合在同一直线后，照射于所述待测工件的表面。

使用上述影像测量仪时，如果所述待测工件表面的光滑度较高，则利用所述光学装置将图案片的图案投射到所述待测工件的表面，以方便对焦；如果所述待测工件表面的光滑度较低，则直接通过所述环形光源及同轴光源照亮所述待测工件即可。

附图说明

图1是本发明较佳实施方式影像测量仪的立体图；

图2是图1所示影像测量仪沿II-II线的剖视图；

图3是图2中图案片的示意图。

主要元件符号说明