[发明专利]冲程量检测装置有效

专利信息
申请号: 201210069279.X 申请日: 2012-03-15
公开(公告)号: CN102680006A 公开(公告)日: 2012-09-19
发明(设计)人: 松本光一郎;水谷彰利;武田宪司 申请(专利权)人: 株式会社电装
主分类号: G01D3/028 分类号: G01D3/028
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 舒雄文;蹇炜
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 冲程 检测 装置
【权利要求书】:

1.一种用于检测直线运动的检测对象(3a)的冲程的冲程量检测装置(1),所述装置(1)包括:

磁性检测单元(5),所述磁性检测单元(5)包括磁性感测表面(5a)并且根据所述检测对象(3a)的直线运动在直线轴(x)上移动;以及

第一磁场生成单元(21,23,25)和第二磁场生成单元(22,24,26),所述第一磁场生成单元(21,23,25)和所述第二磁场生成单元(22,24,26)设置在所述直线轴(x)的一侧上,其中:

所述磁性检测单元(5)相对于所述第一磁场生成单元(21,23,25)和所述第二磁场生成单元(22,24,26)移动;

所述第一磁场生成单元(21,23,25)和所述第二磁场生成单元(22,24,26)布置为在所述冲程的方向上彼此隔开并且彼此相对;

彼此相对的所述第一磁场生成单元(21,23,25)的磁极和所述第二磁场生成单元(22,24,26)的磁极磁化为具有不同的极性;

所述第一磁场生成单元(21,23,25)和所述第二磁场生成单元(22,24,26)布置为使得位于所述直线轴(x)的较远侧的所述第一磁场生成单元(21,23,25)的间隙端(21b,23b,25b)与所述第二磁场生成单元(22,24,26)的间隙端(22b,24b,26b)之间的距离小于位于所述直线轴(x)的较近侧的所述第一磁场生成单元(21,23,25)的开放端(21a,23a,25a)与所述第二磁场生成单元(22,24,26)的开放端(22a,24a,26a)之间的距离;并且

所述磁性检测单元(5)配置为基于所述第一磁场生成单元(21,23,25)的所述开放端(21a,23a,25a)与所述第二磁场生成单元(22,24,26)的所述开放端(22a,24a,26a)之间生成的磁通量来检测所述检测对象(3a)的所述冲程的量。

2.根据权利要求1所述的冲程量检测装置(1),其中,所述磁性检测单元(5)是磁阻元件(5)。

3.一种用于检测直线运动的检测对象(3a)的冲程的冲程量检测装置(1),所述装置(1)包括:

磁性检测单元(5),所述磁性检测单元(5)包括磁性感测表面(5a)并且根据所述检测对象(3a)的直线运动在直线轴(x)上移动;

第一磁场生成单元(21)和第二磁场生成单元(22),所述第一磁场生成单元(21)和所述第二磁场生成单元(22)设置在所述直线轴(x)的一侧上,其中:

所述磁性检测单元(5)相对于所述第一磁场生成单元(21)和所述第二磁场生成单元(22)移动;

所述第一磁场生成单元(21)和所述第二磁场生成单元(22)布置为在所述冲程的方向上彼此隔开并且彼此相对;并且

彼此相对的所述第一磁场生成单元(21)的磁极和所述第二磁场生成单元(22)的磁极磁化为具有不同的极性;

第一磁通量传输单元(31),所述第一磁通量传输单元(31)由磁性材料形成,所述第一磁通量传输单元(31)的连接端(31d)连接至所述第一磁场生成单元(21)的位于所述直线轴(x)的较远侧的一端(21d);以及

第二磁通量传输单元(32),所述第二磁通量传输单元(32)由磁性材料形成,所述第二磁通量传输单元(32)的连接端(32d)连接至所述第二磁场生成单元(22)的位于所述直线轴(x)的所述较远侧的一端(22d),其中:

所述第一磁场生成单元(21)、所述第二磁场生成单元(22)、所述第一磁通量传输单元(31)和所述第二磁通量传输单元(32)布置为使得位于与所述第一磁通量传输单元(31)的所述连接端(31d)相反的侧的所述第一磁通量传输单元(31)的间隙端(31c)与位于与所述第二磁通量传输单元(32)的所述连接端(32d)相反的侧的所述第二磁通量传输单元(32)的间隙端(32c)之间的距离小于所述第一磁场生成单元(21)的位于所述直线轴(x)的较近侧的开放端(21a)与所述第二磁场生成单元(22)的位于所述直线轴(x)的所述较近侧的开放端(22a)之间的距离;并且

所述磁性检测单元(5)配置为基于所述第一磁场生成单元(21)的所述开放端(21a)与所述第二磁场生成单元(22)的所述开放端(22a)之间生成的磁通量来检测所述检测对象(3a)的所述冲程的量。

4.根据权利要求3所述的冲程量检测装置(1),其中,所述磁性检测单元(5)是磁阻元件(5)。

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