[发明专利]半导体装置及其检查方法、以及发送电路

说明书

相关申请

本申请以日本专利申请2011-176801号(申请日：2011年8月12日)为基础申请，并要求其优先权。本申请通过参照该基础申请包含基础申请的全部内容。

技术领域

本发明的实施方式涉及半导体装置及其检查方法、以及发送电路。

背景技术

在用于控制电子设备的半导体装置中需要耐噪量较大，能够高精度地传输模拟信号的绝缘电路。虽然具备光电耦合器(photo coupler)等以光学方式传输信号的光耦合型绝缘电路的半导体装置在输入与输出之间完全电绝缘，从而耐噪量优良，但并不适用于传输模拟信号。例如，虽然在接收侧使用具备信号处理电路的IC输出型光电耦合器，并将其用于传输数字信号，但无法传输高精度的模拟信号。此外，在用于传输模拟信号的晶体管耦合器(transi stor coupler)等的绝缘电路中，存在由其非线性引起的信号波形失真的问题，因而不适于传输高精度的模拟信号。

因此，为了能够利用光耦合型绝缘电路来传输高精度的模拟信号，开发了在其发送侧附加模拟/数字(AD)转换电路的技术。即，通过将模拟输入转换为数字信号并传输，避免光耦合部的非线性的影响，从而能够进行高精度的模拟传输。

作为模拟/数字转换电路，在使用德尔塔-西格玛(Δ∑：delta-sigma)型转换电路的情况下，为了高精度地传输包含在模拟信号中的信息，期望提高AD转换中的时钟频率。此外，为了将光耦合型绝缘电路内的光信号路径合为一条，使用了将模拟/数字转换电路的取样时钟和数字数据重叠为一系列的信号的调制电路。作为调制方式，在进行脉冲宽度调制而进行光传输的情况下，若取样时钟频率接近光耦合部的响应极限，则由于光耦合部的脉冲宽度失真，导致在接收侧产生解调错误。因此，需要确保光耦合部的传输裕度(margin)并抑制解调错误，从而需要能够进行高精度的信号传输的光耦合型绝缘电路和具备该光耦合型绝缘电路的半导体装置。

发明内容

本发明的实施方式提供一种确保光耦合部的传输裕度并抑制解调错误，从而能够进行高精度的信号传输的半导体装置及其检查方法、以及发送电路。

实施方式的半导体装置具备：模拟数字转换部；脉冲宽度调制部，输出对应于数字信号的脉冲类型(pattern)即传输信号；参照信号生成部，生成固定脉冲即参照信号。并且，上述半导体装置具备：第一控制部，选择上述传输信号及上述参照信号之一；发光元件驱动部，输出基于上述传输信号或上述参照信号的驱动电流；发光元件，发出基于上述传输信号或上述参照信号的光信号。上述半导体装置还具备：光接收部，将上述光信号转换为电压信号；解调部，将上述电压信号解调为基于上述传输信号或上述参照信号的数字信号。

通过本发明的实施方式，能够提供一种确保光耦合部的传输裕度并抑制解调错误，从而能够进行高精度的信号传输的半导体装置及其检查方法、以及发送电路。

附图说明

图1是表示第一实施方式的半导体装置的结构的示意图。

图2是表示第二实施方式的半导体装置的结构的示意图。

图3是表示第二实施方式的变形例的半导体装置的结构的示意图。

图4是表示第三实施方式的半导体装置的结构的示意图。

图5是表示第三实施方式的变形例的半导体装置的结构的示意图。

图6是表示第四实施方式的半导体装置的结构的示意图。

图7是表示第四实施方式的变形例的半导体装置的结构的示意图。

图8是表示第五实施方式的半导体装置的结构的示意图。

图9是表示第五实施方式的变形例的半导体装置的结构的示意图。

图10是表示第六实施方式的半导体装置的结构的示意图。

图11是表示第七实施方式的半导体装置的结构的示意图。

图12是例示脉冲宽度调制部中的编码方式的图。

图13是例示脉冲失真补偿部的电路图。

图14是例示半导体装置的控制部的电路图。

图15是表示第一实施方式的半导体装置的检查方法的流程图。

图16是表示第二实施方式的半导体装置的检查方法的流程图。

图17是表示第四及第五实施方式的半导体装置的检查方法的流程图。

图18是表示第五实施方式的半导体装置的动作模式的表。

具体实施方式

在下文中，参照附图对本发明的实施方式进行说明。此外，对附图中的相同部分附加相同编号，并适当地省略其详细说明，对于不同部分进行适当地说明。

(第一实施方式)