[发明专利]一种非应答方式识别卡片进场的RFID读卡器及识别方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种非应答方式识别卡片进场的RFID读卡器及识别方法。

背景技术

传统轮询寻卡应用领域的RFID读卡器，是通过通讯应答方式识别卡片进场，在进行卡片进场识别时所采取的方法是进行尝试性地应答请求，若无正确应答则表示无卡进场，若有正确应答则表示有卡进场。无卡状态下，读卡器继续周期性发送应答请求；确认有卡状态后，进行后续的数据通讯。这个过程实际是对卡片进场识别采取低效的方法，在大部分无卡进场的时间内，轮询慢速的应答请求，牺牲大量卡片识别时间，浪费大量无卡状态下的寻卡所产生的功耗。

发明内容

本发明提供的一种非应答方式识别卡片进场的RFID读卡器及识别方法，摒弃了慢速的轮询应答请求识别方式，缩短识别时间，提高了卡片进场检测的效率，节省检测时间，节省了无卡状态下的寻卡功耗。

为了达到上述目的，本发明提供一种非应答方式识别卡片进场的RFID读卡器，该非应答方式识别卡片进场的RFID读卡器包含依次电路连接的天线、天线电路、发射接收电路和编码解码电路，还包含电路连接所述天线、天线电路和发射接收电路的进场检测电路；

发射接收电路通过天线电路和天线，发射电磁场，当卡片进入读卡器的电磁场范围后，进场检测电路通过对发射接收路径上的信号变化进行检测，快速识别卡片进入电磁场内。

天线、天线电路、发射接收电路组成所述的发射接收路径。

进场检测电路检测天线的信号变化，或者检测天线电路的信号变化，或者检测发射接收电路的信号变化。

所述的信号是电压信号或者电流信号。

所述的信号变化是信号的幅度信息变化，或者是信号的频率信息变化，或者是信号的相位信息变化。

本发明还提供一种非应答方式识别卡片进场的RFID读卡器的识别方法，包含以下步骤：

步骤1、发射接收电路通过天线电路和天线，发射电磁场；

步骤2、进场检测电路检测发射接收路径上的信号变化，若检测到信号变化，则判断有卡片进入读卡器的电磁场内，进行卡片的数据通讯。

所述的天线、天线电路、发射接收电路组成发射接收路径。

所述的步骤2中，进场检测电路检测天线的信号变化，或者检测天线电路的信号变化，或者检测发射接收电路的信号变化。

所述的信号是电压信号或者电流信号。

所述的信号变化是信号的幅度信息变化，或者是信号的频率信息变化，或者是信号的相位信息变化。

本发明提高了卡片进场检测的效率，节省检测时间，为低功耗轮询寻卡应用领域的RFID读卡器设计提供了一个快速卡片进场识别的解决方案。

附图说明

图1是本发明的一种非应答方式识别卡片进场的RFID读卡器的电路框图；

图2是传统应答方式轮询寻卡的RFID读卡器在单位时间内的平均功耗示意图；

图3是本发明提供的非应答方式识别卡片进场的RFID读卡器在单位时间内的平均功耗示意图。

具体实施方式

以下根据图1～图3，具体说明本发明的较佳实施例。

如图1所示，是一种非应答方式识别卡片进场的RFID读卡器的电路框图，该非应答方式识别卡片进场的RFID读卡器包含依次电路连接的天线101、天线电路102、发射接收电路103和编码解码电路104，还包含电路连接所述天线101、天线电路102和发射接收电路103的进场检测电路105；

进场检测电路105可以采用诸如场强检测、电流/电压变化采集、包络解调等方式实现。

发射接收电路103通过天线电路102和天线101，发射电磁场，当卡片进入读卡器的电磁场范围后，进场检测电路105通过对发射接收路径上的信号变化进行检测，快速识别卡片进入电磁场内。

天线101、天线电路102、发射接收电路103组成所述的发射接收路径；进场检测电路105检测天线101的信号变化，或者检测天线电路102的信号变化，或者检测发射接收电路103的信号变化；所述的信号是电压信号或者电流信号；所述的信号变化是信号的幅度信息变化，或者是信号的频率信息变化，或者是信号的相位信息变化；

一种非应答方式识别卡片进场的RFID读卡器的识别方法，包含以下步骤：

步骤1、发射接收电路103通过天线电路102和天线101，发射电磁场；

步骤2、进场检测电路105检测发射接收路径上的信号变化，若检测到信号变化，则判断有卡片进入读卡器的电磁场内，进行卡片的数据通讯；