[发明专利]遗留物检测背景的创建方法及系统有效

专利信息
申请号: 201210070757.9 申请日: 2012-03-16
公开(公告)号: CN102622758A 公开(公告)日: 2012-08-01
发明(设计)人: 刘德健;吴金勇;王一科;龚灼 申请(专利权)人: 安科智慧城市技术(中国)有限公司;武汉恒亿电子科技发展有限公司
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00
代理公司: 深圳中一专利商标事务所 44237 代理人: 张全文
地址: 518000 广东省深圳*** 国省代码: 广东;44
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 遗留 检测 背景 创建 方法 系统
【说明书】:

技术领域

发明属于安防领域,尤其涉及一种遗留物的检测背景的创建技术。

背景技术

在安防领域中,遗留物的检测对防止恐怖分子安放炸弹、毒气等危险品,提高公共场所安全起着重要的作用。另外,遗留物的检测还能够及时发现旅客遗留的行李,减少旅客损失等,对安防领域有着极其重要的作用,所以遗留物的检测在安防领域尤其重要,而遗留物的检测方法中,遗留物的检测背景的创建技术对遗留物的检测准确度起着非常关键的作用,现有的遗留物检测背景的创建方法主要有:统计一小段时间内像素点灰度值出现的概率,将出现概率大的灰度值认为是背景像素点,概率小的灰度值认为是运动像素点。或者是保存单一场景作为背景图片。

在实现现有技术的过程中,发现现有技术的技术方案存在如下问题:

现有技术中遗留物检测背景的创建单一,无法满足现实的要求,容易导致遗留物检测不准确。

发明内容

本发明实施例的目的在于提供一种遗留物检测背景的创建方法,旨在解决现有的技术方案遗留物检测背景创建单一导致遗留物检测不准确的问题。

本发明实施例是这样实现的,一种遗留物检测背景的创建方法,所述方法包括:

获取场景中多个时间段的图片作为背景参考图片;

剔除背景参考图片的干扰目标,并在背景参考图片上标记干扰目标,在所有背景参考图片中没有标记干扰目标的像素点全部覆盖图片的整个区域时,将所有的背景参考图片作为遗留物检测背景。

可选的,所述获取场景中多个时间段的图片作为背景参考图片的方法具体包括:

将系统初始化时间划分为多个时间片,从每个时间片中提取一张图片作为背景参考图片。

可选的,所述剔除背景参考图片的干扰目标具体包括:

使用背景差算法处理背景参考图片得到运动目标前景图像,然后对运动目标前景图像使用连通区域提取算法提取目标的外接矩形框,将外接矩形框区域标注为干扰区域,将干扰区域剔除。

可选的,所述剔除背景参考图片的干扰目标还包括步骤:

通过手动方式剔除背景参考图片的干扰目标

一种遗留物检测背景的创建系统,所述系统包括:

获取单元,用于获取场景中多个时间段的图片作为背景参考图片;

剔除单元,用于剔除背景参考图片的干扰目标,并在背景参考图片上标记干扰目标,在所有背景参考图片中没有标记干扰目标的像素点全部覆盖图片的整个区域时,将所有的背景参考图片作为遗留物检测背景。

可选的,所述获取单元具体包括:

划分模块,用于将系统初始化时间划分为多个时间片;

提出模块,用于从每个时间片中提取一张图片作为背景参考图片。

可选的,所述剔除单元具体用于使用背景差算法处理背景参考图片得到运动目标前景图像,然后对运动目标前景图像使用连通区域提取算法提取目标的外接矩形框,将外接矩形框区域标注为干扰区域,将干扰区域剔除。

在本发明实施例中,本发明提供的技术方案遗留物检测背景的创建方法在背景创建时,提取多个时间段的背景参考图片,并对这些背景参考图片剔除干扰目标,这样能避免干扰目标对遗留物检测的干扰,从而提高遗留物检测的准确度。

附图说明

图1是本发明具体实施方式提供的一种遗留物检测背景的创建方法的流程图;

图2是本发明具体实施例提供的剔除背景参考图片的干扰目标的具体流程图;

图3是本发明提供的一种遗留物检测背景的创建系统的结构图。

具体实施方式

为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本发明进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明,并不用于限定本发明。

本发明提供的一种遗留物检测背景的创建方法,该方法由安防系统执行,该方法如图1所示,包括:

S11、获取场景中多个时间段的图片作为背景参考图片;

S12、剔除背景参考图片的干扰目标(例如人或物等不属于背景参考图片的目标),并在背景参考图片上标记干扰目标,在所有背景参考图片中没有标记干扰目标的像素点全部覆盖图片的整个区域时,将所有的背景参考图片作为遗留物检测背景。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于安科智慧城市技术(中国)有限公司;武汉恒亿电子科技发展有限公司,未经安科智慧城市技术(中国)有限公司;武汉恒亿电子科技发展有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201210070757.9/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top