[发明专利]模拟电路测试装置

说明书

技术领域

本发明涉及电路领域，具体而言，涉及一种模拟电路测试装置。

背景技术

随着模拟电路的广泛使用，往往需要对模拟电路的功能进行测试，也即，测试模拟电路的功能正确性，但是，在现有技术中，在对模拟电路的进行测试时，需要连接外部测试设备(例如高速测试仪器)或者对应的接收芯片(如高速串行数据接收器或模数转化器)才能够进行测试，从而导致现有的模拟电路测试方法成本高，测试时间长。

针对相关技术中的模拟电路测试方式需要连接外部设备才能够进行测试的问题，目前尚未提出有效的解决方案。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种模拟电路测试装置，以解决相关技术中的模拟电路测试方式需要连接外部设备设备的才能够进行测试的问题。

为了实现上述目的，根据本发明的一个方面，提供了一种模拟电路测试装置，包括：产生电路，用于提供测试向量；第一获取电路，连接于被测电路的输入端和产生电路之间，用于获取测试向量以及将测试向量施加至被测电路；第二获取电路，连接于被测电路的输出端，用于获取被测电路的输出信息；以及分析电路，与第二获取电路相连接，用于根据被测电路的输出信息判断被测电路的功能正确性。

进一步地，产生电路包括：特征产生器，用于产生特征序列；以及模拟电路测试向量产生器，连接于特征产生器，用于根据特征序列得到测试向量。

进一步地，产生电路还包括：随机序列产生器，连接于模拟电路测试向量产生器，用于产生随机测试向量序列，其中，模拟电路测试向量产生器用于将特征序列的信息加入随机测试向量序列，以产生含有特征信息的测试向量。

进一步地，第一获取电路为模拟电路向量获取电路，模拟电路向量获取电路用于从数字模拟接口获取测试向量。

进一步地，第二获取电路为解串行化电路，其中，解串行化电路用于获取被测电路的输出信息，以及将输出信息中的串行数据转换为并行数据。

进一步地，第二获取电路为模数转换电路，其中，模数转换电路用于获取被测电路的输出信息，以及将输出信息中的模拟信号转换为数字信号。

进一步地，包括数字电路，其中，数字电路包括产生电路和分析电路。

进一步地，模拟电路测试装置还包括：测试向量压缩电路，用于抽取解串行化电路或模数转换电路恢复的数据流中的特征信息，并加以压缩，回传给数字电路。

进一步地，分析电路为测试向量特征分析电路，测试向量特征分析电路用于分析经过测试向量压缩电路压缩过的特征信息，并检测特征信息的正确性。

进一步地，被测电路为串行器转换电路或数模转换电路。

通过采用本发明所提供的模拟电路测试装置，由于通过产生电路提供测试向量，连接于被测电路的输入端和产生电路之间的第一获取电路获取测试向量以及将测试向量施加至被测电路，连接于被测电路的输出端的第二获取电路获取被测电路的输出信息；以及通过与第二获取电路相连接的分析电路根据被测电路的输出信息判断被测电路的功能正确性，因而解决了相关技术中的模拟电路测试方式需要连接外部设备才能够进行测试的问题，进而达到了使得模拟电路测试装置无需连接外部设备也能够进行测试的效果。

附图说明

构成本申请的一部分的附图用来提供对本发明的进一步理解，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中：

图1是根据本发明实施例的模拟电路测试装置的示意图；以及

图2是根据本发明优选实施例的模拟电路测试装置的示意图。

具体实施方式

需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本发明。

本发明实施例提供了一种模拟电路测试装置。

图1是根据本发明实施例模拟电路测试装置的示意图，如图1所示，该模拟电路测试装置包括产生电路、第一获取电路、第二获取电路和分析电路。

产生电路，用于提供测试向量。该测试向量用于提供给模拟电路以进行测试，其中，该测试向量既可以是基于特征序列得到的测试向量，也可以是基于随机测试向量序列和特征序列二者所得到的测试向量。

第一获取电路，连接于被测电路的输入端和所述产生电路之间，用于获取所述测试向量以及将所述测试向量施加至所述被测电路。该第一获取电路可以作为模拟电路的一部分，用于在获取到测试向量之后，将获取到的测试向量施加至模拟电路中的被测电路部分。