[发明专利]用于掠入射XAFS方法的样品台无效

专利信息
申请号: 201210074161.6 申请日: 2012-03-20
公开(公告)号: CN102636508A 公开(公告)日: 2012-08-15
发明(设计)人: 魏向军;李丽娜;于海生;黄宇营;姜政;高倩 申请(专利权)人: 中国科学院上海应用物理研究所
主分类号: G01N23/223 分类号: G01N23/223
代理公司: 上海智信专利代理有限公司 31002 代理人: 邓琪
地址: 201800 上*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 用于 入射 xafs 方法 样品
【权利要求书】:

1.一种用于掠入射XAFS方法的样品台,包括由上至下依次连接的样品支架、第一角位台、第二角位台、旋转台、升降台和平移台,所述旋转台和平移台分别由与一控制系统相连的电机控制,其特征在于,所述旋转台和所述平移台上分别设有与所述控制系统相连的光栅尺。

2.如权利要求1所述的用于掠入射XAFS方法的样品台,其特征在于,所述旋转台上的光栅尺为圆光栅尺。

3.如权利要求2所述的用于掠入射XAFS方法的样品台,其特征在于,所述平移台上的光栅尺为直线光栅尺。

4.如权利要求1或2或3所述的用于掠入射XAFS方法的样品台,其特征在于,所述第一角位台、第二角位台和升降台分别由手动控制。

5.如权利要求4所述的用于掠入射XAFS方法的样品台,其特征在于,所述第一角位台、第二角位台和升降台上分别设有锁紧机构。

6.如权利要求5所述的用于掠入射XAFS方法的样品台,其特征在于,所述第一角位台、第二角位台和旋转台分别带有旋转轴,所述三个旋转轴两两垂直。

7.如权利要求1或2或3所述的用于掠入射XAFS方法的样品台,其特征在于,所述样品支架的侧表面与所述旋转台的上表面垂直。

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