[发明专利]一种防二次冲击电路及其测试工装

说明书

技术领域

本发明涉及测试技术，尤其涉及一种防二次冲击电路及其测试工装。

背景技术

当产品制成后，通常会抽取样品进行各种测试，例如对样品的强度进行测试，通常采用的方式为冲击测试。GB3836.1标准中规定：玻璃透明件应在三个样品上进行试验，每个样品只试验一次，其他零件应在二个样品上进行试验，每个样品在两个不同位置各进行一次试验。

目前，冲击测试是将被测试物件放置在冲击筒底，由冲击筒内的冲击锤来进行冲击测试。但在实际的冲击测试中，由于冲击锤在冲击筒里面做自由落体运动，并且该冲击筒是直筒型的，因此在冲击的过程中，冲击锤第一次冲击被测试物件后，会反跳起来，然后自由落下，再次冲击物件，如此反复对被测试物件冲击N次，这样不仅不符合测试标准，而且由于对被测试物件反复冲击，从而导致测试结果不准，同时也对被测试物件造成了多次伤害。

发明内容

本发明所要解决的技术问题在于，提供了一种防二次冲击电路和测试工装，能够避免被测试物件被冲击锤反复冲击导致测试结果不精确的情况，从而提高测试结果的准确性，也避免对被测试物件造成伤害。

为了解决上述技术问题，本发明提供了一种防二次冲击电路，包括用于供电的电源模块；

与所述电源模块相连的，用于控制冲击筒截取冲击锤的控制模块，所述控制模块包括电子开关、继电器和常闭的第一工作开关，以及用于采集冲击锤的位置信息，并根据所采集的位置信息控制所述电子开关导通的采集子模块，和用于控制冲击筒截取所述冲击锤的电磁阀，其中，所述电子开关的控制端通过所述采集子模块连接于电源模块的输出端，所述电子开关的输出端接地，输入端通过所述继电器的线圈、所述第一工作开关连接于所述采集子模块与电源模块输出端的公共节点，所述继电器的动触点连接于所述电子开关的输入端与继电器的线圈的公共节点，静触点通过所述电磁阀的线圈接地； 

当所述采集子模块采集到所述冲击锤的位置信息为预设的安全位置时，则所述采集子模块控制所述电子开关导通，所述电磁阀端部处于收缩状态；当所述第一工作开关断开时，所述电磁阀端部恢复初始状态。

此外，为了解决上述技术问题，本发明还提供了一种使用上述电路的冲击测试工装，包括冲击筒和设置于所述冲击筒内的冲击锤，还包括固定在冲击筒上形成杠杆的截取件、电磁阀、和上述任意一项所述的防二次冲击电路，所述防二次冲击电路用于控制所述电磁阀收缩和释放，当所述电磁阀收缩时，所述截取件伸入冲击筒内截取冲击锤；当所述电磁阀释放时，所述截取件反向运动释放冲击锤。

实施本发明，具有如下有益效果：

实施本发明的防二次冲击电路，通过采集冲击锤的位置信息，当冲击锤的位置信息为预设的安全位置时，该采集子模块根据该位置信息控制电子开关导通，从而使得继电器K1的线圈接通电源，其动触点与静触点相连，电磁阀接入电源，则该电磁阀收缩，从而控制冲击筒的截取件截取冲击锤，避免了冲击锤对被测试物件反复进行冲击而导致的伤害，同时使得测试过程符合标准，提高了测试结果的准确性。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本发明的一种防二次冲击电路的一实施例的原理框图；

图2是本发明的一种防二次冲击电路的一实施例的电路原理图；

图3是本发明的一种防二次冲击电路的又一实施例的原理框图；

图4是本发明的一种防二次冲击电路的又一实施例的电路原理图；

图5是电磁阀处于初始状态时冲击图的示意图；

图6是电磁阀处于收缩状态时冲击图的示意图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

参见图1，为本发明的防二次冲击电路的一实施例的原理框图。本实施例的防二次冲击电路具体实施过程如下：电源模块1和控制模块2，其中，