[发明专利]xDSL测试系统及其测试方法无效
申请号: | 201210077058.7 | 申请日: | 2012-03-22 |
公开(公告)号: | CN102611804A | 公开(公告)日: | 2012-07-25 |
发明(设计)人: | 赵社社 | 申请(专利权)人: | 东莞普思电子有限公司 |
主分类号: | H04M3/22 | 分类号: | H04M3/22;H04L12/26 |
代理公司: | 厦门市新华专利商标代理有限公司 35203 | 代理人: | 彭长久 |
地址: | 523000 广东省东莞*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | xdsl 测试 系统 及其 方法 | ||
技术领域
本发明涉及通信领域技术,尤其是指一种能够简单而有效地对xDSL进行测试的xDSL测试系统及其测试方法。
背景技术
xDSL是各种类型DSL(Digital Subscribe Line)数字用户线路的总称,包括ADSL、RADSL、VDSL、SDSL、IDSL和HDSL等。
xDSL是一种新的传输技术,在现有的铜质电话线路上采用较高的频率及相应调制技术,即利用在模拟线路中加入或获取更多的数字数据的信号处理技术来获得高传输速率(理论值可达到52Mbps)。大部分业界观察家以及电信业对xDSL技术都比较熟悉。xDSL通过使用4 KHz以上的频率来达到比模拟语音通话更宽的带宽。对于传统住宅ADSL服务, 更多的带宽用于发送信息给下载的用户。同时预留少量的频道来上传。通过这种方式,ADSL可以更快的传递数据,使网上冲浪变得更完美,还可以有一些类似的不对称应用。所以,xDSL的高速度低成本受到越来越多的关注。
但是不同的国家有不同的标准,很多标准定义了不同的特殊复杂阻抗测试端口以及从不同端口测试,在对xDSL测试时常常需要配合使用很多匹配器方可对xDSL的各功能项目进行测试,所以xDSL测试是非常复杂的,测试的准确度很难把握,而且测试一种产品需要一周的时间,具有很大的局限性,到现在为止,仍然没有一个简单有效的方式来准确的测试xDSL。
发明内容
有鉴于此,本发明针对现有技术存在之缺失,其主要目的是提供一种xDSL测试系统及其测试方法,其能有效解决利用现有之设备及方法不能简单而有效地对xDSL进行测试导致测试操作复杂、周期长的问题。
为实现上述目的,本发明采用如下之技术方案:
一种xDSL测试系统,包括有计算机、控制器和测试模组;
该控制器与测试模组连接并形成测试回路,该计算机的输出端和输入端分别对应与测试模组和控制器连接;
该测试模组包括有串联一起的阻抗源模块、滤波器模块和负载阻抗模块;该阻抗源模块包括有若干个并联一起的阻抗源,该若干个阻抗源分别通过若干个第一继电器控制以单独、并联或串联的形式接入到测试回路中;该滤波器模块包括有若干个并联连接的滤波器,该若干个滤波器通过第二继电器控制接入到测试回路中;该负载阻抗模块包括有若干个并联连接的负载阻抗,该若干个负载阻抗分别通过若干个第三继电器控制以单独、并联或串联的形式接入到测试回路中;该第一继电器、第二继电器、第三继电器均于计算机连接,由计算机控制各第一继电器、第二继电器和第三继电器通断。
作为一种优选方案,所述第一继电器、第二继电器和第三继电器均为光继电器。
一种xDSL测试方法,包括以下步骤:
(1)根据数字用户线路的类型,通过计算机控制各第二继电器通断,以此选择合适的滤波器接入测试回路中;
(2)将数字用户线路接入测试模组中,并通过计算机控制各第一继电器和第三继电器通断,以此选择合适的阻抗源和负载阻抗接入到测试回路中;
(3)通过控制器控制数字用户线路信号的输入,并通过计算机再次控制各第一继电器和第三继电器,以此选择合适的阻抗源和负载阻抗接入到测试回路中;
重复步骤(3),直至完成数字用户线路所有功能项目的测试。
作为一种优选方案,所述第一继电器、第二继电器和第三继电器均为光继电器。
本发明与现有技术相比具有明显的优点和有益效果,具体而言,由上述技术方案可知:
一、通过利用计算机控制第一继电器、第二继电器和第三继电器的通断,以此实现自动选择将合适的阻抗源、滤波器和负载阻抗接入测试回路中对数字用户线路所有功能项目进行准确而有效地测试,本发明优化了测试设备,减少了匹配器的数量,操作非常地简便,缩短了测试周期,从而大大提高了测试作业的效率。
二、通过采用光继电器作为第一继电器、第二继电器和第三继电器,以此可形成LED显示电路,以清晰显示测试回路,有利于降低测试维护的复杂度,从而为操作人员带来方便。
为更清楚地阐述本发明的结构特征和功效,下面结合附图与具体实施例来对本发明进行详细说明。
附图说明
图1是本发明之较佳实施例的结构示意图;
图2是本发明之较佳实施例中测试模组的放大结构示意图。
附图标识说明:
10、计算机 20、控制器
30、测试模组 31、阻抗源模块
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