[发明专利]一种基线动态测量系统的精度获取方法

权利要求书

1.一种基线动态测量系统的精度获取方法，包括：

在天线模型上分别安装基线动态测量系统和激光跟踪仪的合作目标，将天线模型安装于天线模拟运动平台上；基线动态测量系统和激光跟踪仪分别对准所述天线模型上相应的合作目标；

天线模拟运动平台产生天线运动所需要的运动轨迹，基线动态测量系统和激光跟踪仪同时测量天线模型上其合作目标的位置和姿态变化，分别得到天线模型的相位中心的位置和姿态变化；

根据基线动态测量系统和激光跟踪仪的坐标系转换关系，把激光跟踪仪测量的模拟天线的相位中心的位置和姿态变化统一到基线动态测量系统坐标系下；

以基线动态测量系统坐标系下激光跟踪仪测量的天线的相位中心的位置和姿态变化作为标准值，将基线动态测量系统的测量值与该标准值比较，进行误差统计分析，得到基线动态测量系统的测量精度。

2.根据权利要求1所述的基线动态测量系统的精度获取方法，其中，所述天线模拟运动平台为六自由度天线模拟运动平台。

3.根据权利要求1所述的基线动态测量系统的精度获取方法，其中，所述六自由度天线模拟运动平台能够实现以下形式运动：以不同幅值和频率做纵向X、横向Y、垂向Z向的平移运动；和绕三个轴以不同幅值和频率做俯仰、倾斜和偏航方向的旋转运动。

4.根据权利要求3所述的基线动态测量系统的精度获取方法，其中，所述把激光跟踪仪测量的模拟天线的相位中心的位置和姿态变化统一到基线动态测量系统坐标系的步骤包括将激光跟踪仪输出的激光跟踪仪合作目标坐标系TMAS和激光跟踪仪坐标系TMRS间的位置和姿态数据进行以下坐标变换：

1)由天线坐标系ACS转换为激光跟踪仪合作目标坐标系TMAS；

2)由激光跟踪仪坐标系TMRS转换为基线动态测量系统坐标系CCS。

5.根据权利要求4所述的基线动态测量系统的精度获取方法，其中，所述基线动态测量系统和激光跟踪仪同时测量天线模型上其合作目标的位置和姿态变化的步骤之前还包括：

对天线模型及其安装在上面的基线动态测量系统和激光跟踪仪的合作目标进行坐标标定；

根据标定结果通过拟合的方法建立天线坐标系ACS、控制点坐标系TCS和激光跟踪仪合作目标坐标系TMAS，得到以下坐标系的转换关系：1)控制点坐标系TCS和天线坐标系ACS的转换关系；2)天线坐标系ACS和激光跟踪仪合作目标TMAS的转换关系。

6.根据权利要求5所述的基线动态测量系统的精度获取方法，其中，所述基线动态测量系统和激光跟踪仪同时测量天线模型上其合作目标的位置和姿态变化的步骤之前还包括：

利用摄影测量的方法确定以下坐标系的转换关系：激光跟踪仪坐标系TMRS与基线动态测量系统坐标系CCS之间的转换关系。

7.根据权利要求6所述的基线动态测量系统的精度获取方法，其中，所述基线动态测量系统和激光跟踪仪同时测量天线模型上其合作目标的位置和姿态变化，分别得到天线模型的相位中心的位置和姿态变化的步骤中，分别得到每个时刻两套系统与其相应合作目标的转换关系：

1)激光跟踪仪测量系统输出的激光跟踪仪合作目标坐标系TMAS和激光跟踪仪坐标系TMRS之间的转换关系；

2)基线动态测量系统输出的控制点坐标系TCS和基线动态测量系统坐标系CCS之间的转换关系。

8.根据权利要求1至7中任一项所述的基线动态测量系统的精度获取方法，其中，所述基线动态测量系统包括：

CCD相机，其合作目标为三个LED灯；

激光测距仪，其合作目标为激光反射板或角反射器阵列。

9.根据权利要求1至7中任一项所述的基线动态测量系统的精度获取方法，其中，所述激光跟踪仪的测量精度至少为基线动态测量系统精度的10倍；其输出频率至少为天线模拟运动平台运动频率的2倍。

10.根据权利要求1至7中任一项所述的基线动态测量系统的精度获取方法，应用于双天线干涉合成孔径雷达系统。