[发明专利]一种制作质谱仪中质量分析器的方法有效
| 申请号： | 201210077868.2 | 申请日： | 2012-03-22 |
| 公开（公告）号： | CN102623275A | 公开（公告）日： | 2012-08-01 |
| 发明（设计）人： | 聂宗秀;张硕;熊彩侨;周晓煜;王佳宁;陈素明 | 申请（专利权）人： | 中国科学院化学研究所 |
| 主分类号： | H01J9/00 | 分类号： | H01J9/00;B29C45/00 |
| 代理公司： | 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 | 代理人： | 关畅 |
| 地址： | 100190 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 制作 质谱仪 质量 分析器 方法 | ||
1.一种制作质谱仪中质量分析器的方法，包括如下步骤：
(1)使用计算机软件辅助设计所述质量分析器的各组成部件，并得到各部件的模拟图和设计图；
(2)根据所述设计图，制作所述各部件的实物样品，进而组装得到所述质量分析器的实物样品；
(3)根据所述质量分析器的实物样品，利用计算机软件得到所述质量分析器的实物样品相应模具的设计图；根据所述模具的设计图制作所述模具；
(4)所述模具经注塑成型得到所述质量分析器的各组成部件，经组装即得所述质量分析器。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于：所述计算机软件为AutoCAD、Autodesk Inventor或Solidworks。
3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于：步骤(2)中，采用数控机床制作所述各部件的实物样品。
4.根据权利要求1-3中任一所述的方法，其特征在于：步骤(3)中，采用数控机床制作所述模具。
5.根据权利要求1-4中任一所述的方法，其特征在于：步骤(4)中，在所述组装步骤之前，所述方法还包括对所述各组成部件进行二次加工的步骤。
6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于：所述二次加工为丝印、移印、烫印、水转印、超声波焊接、喷涂或电镀。
7.根据权利要求1-6中任一所述的方法，其特征在于：所述模具的材质为铜或钢材；所述质量分析器的材质为塑料或橡胶。
8.根据权利要求1-7中任一所述的方法，其特征在于：所述质量分析器为四极杆质量分析器、离子阱质量分析器、轨道阱质量分析器、飞行时间质量分析器或傅里叶变换离子回旋共振质量分析器。
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