[发明专利]用于改善X光图的细节可识别性的方法无效
申请号: | 201210078529.6 | 申请日: | 2007-10-09 |
公开(公告)号: | CN102645440A | 公开(公告)日: | 2012-08-22 |
发明(设计)人: | 雷纳·汉克尔 | 申请(专利权)人: | 史密斯海曼有限公司 |
主分类号: | G01N23/04 | 分类号: | G01N23/04;G06T5/00 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人: | 吴丽丽 |
地址: | 德国威*** | 国省代码: | 德国;DE |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 改善 细节 识别 方法 | ||
本申请是申请日为2007年10月9日、申请号为200710180920.6的中国专利申请的分案申请。
技术领域
本发明涉及一种用于改善X光图的细节可识别性的方法及一种用于实现该方法的X光设备。
背景技术
在对装在诸如行李等目标物品内的危险品进行安全检查时,例如在飞机场经常使用X光检验设备。这种X光检验设备通常产生一幅正图像,其中X射线在传输过程中在目标物品上的某一点处被减弱或吸收得越少,则该图像点就会越明亮。如此产生的正X光图在可选地经过例如为突出特定区域的颜色而进行的图像处理之后,被显示在诸如监视器的显示设备上。但是人们发现,在所显示的X光图的动态范围很高的情况下,操作者会由于眩光效应而很难识别出细节部分。而如果减少图像亮度的动态范围,则可能损失信息,从而导致更差的检测结果。
发明内容
因此,本发明的任务在于提供一种改善X光图的细节可识别性的方法和装置,而不会发生信息损失。
根据本发明,通过具有权利要求1所述特征的方法和具有权利要求9所述特征的X光检验设备来解决该任务。其它具有优点的实施方式可以由从属权利要求得到。
在本发明的范围内,明确了亮的图像区域对X光检验设备操作者的眩目会导致较差的细节可识别性。根据本发明,这可以通过以下方式来避免,即对X光图中不包含待检目标物品的、通常很明亮的区域进行暗化处理。
首先,借助X光检验设备生成目标物品的正X光图,该X光图分成目标物品区域和空白区域,并对空白区域进行暗化处理。目标物品区域是X光图中待检验的目标物品所处的区域,而空白区域则是X光图中其余的部分。目标物品区域或空白区域不一定是各个彼此相关的区域。
空白区域的暗化处理例如通过用恒定颜色来代替空白区域中的图像信息来实现,最好是用亮度例如为0%、20%、50%或75%的灰色,其中0%亮度对应于黑色,100%亮度对应于白色。
作为对空白区域进行暗化处理的替代方案,可以将该区域内的每个图像点的亮度与一个系数相乘,该系数例如为0.2、0.5或0.75。在另外一种替代方案中,对空白区域的暗化处理通过将空白区域内图像点的亮度值减少一个特定的数值来实现。如果这个差值得到了一个小于最小可能亮度值的亮度值,则该结果由最小亮度值来代替。第一种替代方案具有以下优点,即仅用很小的计算开销就实现了用固定的颜色或亮度对空白区域的替代。第二种和第三种替代方案具有能够保留空白区域中的图像信息的优点。
其它替代方案通过采用查找表实现了对空白区域的暗化。这意味着,对应于一个转换表,将另一个亮度值赋予空白区域中的某一特定亮度。这样做的优点在于,查找表可以对空白区域的暗化处理进行快速计算,并且可以把不同的暗化度赋予不同的亮度值区域。另外,还通过不同的查找表为操作者提供了不同的暗化模式。
最好是可通过X光图的观察者开启对空白区域的暗化处理。这样,使观察者可以在X光图的常规表示和根据本发明的改进表示之间进行转换。作为替代,暗化处理也可以自动实现,例如根据空白区域的亮度、空白区域的亮度与目标物品区域的亮度之间的比例关系自动实现,或者在X光检验设备的配置中确定。区域的平均亮度或者区域的最大和/或最小亮度被作为“亮度”加以考虑。X光检验设备的配置包含例如原则上是开启还是关闭暗化处理的指示。
本发明的一种实施方式中,暗化度是可变的。这意味着,在对空白区域进行均匀填充时,在乘以暗化系数的亮度时或者在通过形成相减后的差值以确定空白区域的亮度时,可以对颜色或亮度进行调节。这种调节可以自动进行,例如根据X光图或者目标物品区域的平均亮度自动实现。作为替代,也可以由用户对暗化度进行调节。
X光图的目标物品区域和/或空白区域最好通过图像处理来确定。在X光图的空白区域,X射线通过空气以及可能存在的传输装置只受到很小的减弱。而待检验的目标物品附带地位于目标物品区域中,它对透射的X射线有进一步的减弱作用。由不同的透射度和与其相关的X光图的不同亮度可以确定目标物品的轮廓,并可将X光图分成目标物品区域和空白区域。
另外地或附加地,X光图的目标物品区域或空白区域通过诸如光电栅栏(Lichtschranken)或距离传感器的传感器来确定。借助于这些传感器可以确定待检验的目标物品在X光检验设备中的位置。这个位置对应于X光图中目标物品区域的位置。
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