[发明专利]产生检查对象的图像数据的方法、处理装置和X射线系统有效
申请号: | 201210082178.6 | 申请日: | 2012-03-26 |
公开(公告)号: | CN102727234A | 公开(公告)日: | 2012-10-17 |
发明(设计)人: | S.卡普勒;M.彼得西尔卡 | 申请(专利权)人: | 西门子公司 |
主分类号: | A61B6/03 | 分类号: | A61B6/03 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 谢强 |
地址: | 德国*** | 国省代码: | 德国;DE |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 产生 检查 对象 图像 数据 方法 处理 装置 射线 系统 | ||
1.一种用于基于检查对象(O)的X射线投影数据(P)产生检查对象(O)的图像数据(BD)的方法,其中,在重建图像数据(BD)之前,所述X射线投影数据(P)经受基于散射测量值的散射校正,其中所述散射测量值在其用于散射校正之前首先经受焦外辐射校正。
2.根据权利要求1所述的方法,其中,在所述焦外辐射校正中,将代表了所测量的散射测量值中的焦外辐射分量的值从所测量的散射测量值中减去。
3.根据权利要求1或2所述的方法,其中,借助多个散射传感器(SS)测量所述散射测量值,并且借助投影数据检测器系统(D)的检测器元件测量所述X射线投影数据(P),并且其中,从所述投影数据检测器系统(D)的检测器元件(E)的检测器测量值中确定在所述散射测量值中所包含的焦外辐射分量。
4.根据权利要求3所述的方法,其中,基于检测器值的加权和形成在利用散射传感器(SS)测量的散射测量值中的焦外辐射分量,通过使用与有关的散射传感器(SS)在环境中相邻的检测器元件(E)的检测器测量值借助于定义的和权重(κq)来确定所述加权和。
5.根据权利要求4所述的方法,其中,将散射传感器(SS)布置在所述投影数据检测器系统(D)的边缘(R)上或旁边,并且在利用该散射传感器(SS)测量的散射测量值中基于检测器值形成用于确定焦外辐射分量的加权和,所述检测器值通过使用多个检测器元件(E)的检测器测量值形成,所述检测器元件(E)相对于有关的散射传感器(SS)布置在沿垂直于投影数据检测器系统(D)的边缘(R)走向的方向(z)上。
6.根据权利要求5所述的方法,其中,通过使用由多个平行于边缘(R)的检测器元件(E)的检测器测量值形成所述检测器值。
7.根据权利要求5或6所述的方法,其中,将所述散射传感器(SS)与所述投影数据检测器系统(D)的边缘(R)间隔开地布置,并且在加权和中考虑代表了布置在该散射传感器(SS)和该投影数据检测器系统(D)的边缘(R)之间的多个虚拟检测器元件的检测器测量值的内插和/或外插的检测器值。
8.根据权利要求4至7中任一项所述的方法,其中,将散射测量值在求减之前与正的加权因数相乘。
9.根据权利要求1至8中任一项所述的方法,其中,对于散射校正,如果有关的散射测量值在焦外校正之后具有负值,则为校正的散射测量值赋予0值。
10.根据权利要求4至9中任一项所述的方法,其中,对于X射线系统(C1),特别是计算机断层造影系统(C1),为焦外辐射校正事先提供多个不同的和权重(κq)的组。
11.根据权利要求10所述的方法,其中,借助于在有关的计算机断层造影系统(C1)上或相匹配类型的计算机断层造影系统(C1)上的试验测量来确定所述和权重(κq)。
12.根据权利要求4至11中任一项所述的方法,其中,取决于传感器行(ζ)并且可选地取决于焦点位置(F)和/或管电压和/或X射线源(C2、C4)的管侧的准直器的打开宽度来确定所述和权重。
13.一种用于处理检查对象(O)的X射线投影数据(P)的投影数据处理装置(20),具有:
-接口设备(C23),用于接收X射线投影数据(P)以及散射测量值,
-焦外辐射校正单元(C21a),用于在焦外辐射校正的范围内校正散射测量值,
-散射校正单元(C21b),用于基于校正的散射测量值在散射校正的范围内校正X射线投影数据(P),和
-重建单元(C21c),用于基于校正的X射线投影数据(Pcorr)重建检查对象(O)的图像数据(BD)。
14.一种X射线系统(C1),具有至少一个X射线源(C2、C4)和至少一个用于采集检查对象(O)的X射线投影数据(P)的检测器系统(C3、C5),所述X射线系统(C1)特别是具有根据权利要求13所述的投影数据处理装置(20)的计算机断层造影系统(C1)。
15.一种计算机程序,具有包括程序代码(Prg1至Prgn)的程序代码装置,以便在所述计算机程序在计算机上运行时执行根据权利要求1至12中任一项所述的方法。
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