[发明专利]一种水滑石-聚(3,4-乙撑二氧噻吩)核壳结构超电容材料的制备方法有效
申请号: | 201210082778.2 | 申请日: | 2012-03-26 |
公开(公告)号: | CN102610393A | 公开(公告)日: | 2012-07-25 |
发明(设计)人: | 韩景宾;卫敏;豆义波;段雪 | 申请(专利权)人: | 北京化工大学 |
主分类号: | H01G9/042 | 分类号: | H01G9/042 |
代理公司: | 北京同恒源知识产权代理有限公司 11275 | 代理人: | 张水俤 |
地址: | 100029 北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 滑石 二氧 噻吩 结构 电容 材料 制备 方法 | ||
1.一种水滑石-聚(3,4-乙撑二氧噻吩)核壳结构超电容材料的制备方法,其特征在于,其制备步骤如下:
a.将可溶性无机盐M1和M2溶解于去离子水中配成混合盐溶液,其中M1的浓度为5~20mmol/L,M1和M2的摩尔浓度比为1~3;
b.将尿素和氟化铵溶于去CO2去离子水中,分别配成浓度为0.02~0.05mol/L的A溶液和0.01~0.02mol/L的B溶液;
c.取a步骤中制得的透明澄清溶液10~25ml,b步骤得到的A溶液5~15ml和B溶液5~20ml,三者混合于高压釜中,并放入导电基底,然后将高压釜密封,置入90~130℃的烘箱中,反应8~24小时后取出,用去离子水冲掉表面残余物,即在导电基底上得到水滑石阵列薄膜;
d.取步骤c得到的表面具有水滑石阵列薄膜的导电基底,采用电化学恒电位沉积的方法,在其表面包覆一层聚(3,4-乙撑二氧噻吩),得到水滑石-聚(3,4-乙撑二氧噻吩)核壳结构超电容材料,具体操作条件为:采用三电极体系,以步骤c得到的表面具有水滑石阵列薄膜的导电基底、Ag/AgCl、Pt丝分别作为工作电极、参比电极和对电极;电解液中十二烷基磺酸钠的浓度为0.07~0.15mol/L,高氯酸锂的浓度为0.1~0.2mol/L,3,4-乙撑二氧噻吩的浓度为0.05~0.1mol/L;沉积电压为0.8~1.2V,沉积时间为30~300s;沉积前在电解液中通10~15分钟N2气,除去溶解的氧气;
M1为二价金属离子Co2+、Fe2+或Ni2+;M2为三价金属离子Fe3+或Al3+。
2.按照权利要求1所述的方法,其特征在于,所述的导电基底为ITO玻璃,镍片、钴片或不锈钢片。
3.按照权利要求1或2所述的方法,其特征在于,制得的水滑石-聚(3,4-乙撑二氧噻吩)核壳结构超电容材料的分子式为:(M1)x(M2)1-x(OH)2(PEDOT)y·mH2O,其中,M1为二价金属离子Co2+、Fe2+或Ni2+,M2为三价金属离子Fe3+或Al3+,PEDOT为聚(3,4-乙撑二氧噻吩);x=0.5~0.75,y=0.08~0.16,m=0.13~0.28。
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