[发明专利]多链路并行边界扫描测试装置及方法

说明书

技术领域

本发明涉及边界扫描测试领域，尤其涉及一种多链路并行边界扫描测试装置及方法。

背景技术

边界扫描测试（BST－Boundary Scan Test）技术是一种将可测试性直接设计到芯片里的技术，是针对解决芯片级到系统级测试、核心逻辑电路互连测试、数字电路到模拟电路或模数电路测试的一系列测试技术。美国电气与电子工程学会（IEEE）把在器件设计中加入边界扫描测试技术及应用该技术来测试器件的方法标准化为IEEE1149系列标准。自从IEEE于1990年公布了IEEE1149.1边界扫描标准以后，边界扫描技术得到了迅速的发展和应用。由于边界扫描技术能够对大规模集成电路、微电路、复杂PCB的功能和连线的正确性进行有效的测试，并且成本相对较低，得到了计算机业界广泛的支持和应用。

现在的电路板上有很多带有边界扫描功能的数字器件，这些器件按一定的方式构成一条或者多条边界扫描链，如图1为符合IEEE1149.1边界扫描联合测试标准的边界扫描链路示意图，多条这样的边界扫描链利用同样的方式也能够构成一条大的边界扫描链。每个具有边界扫描功能的数字器件都含有一个边界扫描测试访问端口，该端口提供五个引脚用于外界访问和控制边界机制：TDI为测试数据输入端口，TDO为测试数据输出端口，TMS为测试模式选择端口，TCK为测试时钟端口，TRST为可选的复位端口。具体实施例中，第一个数字器件的TDO与第二个器件的TDI相连，第二个数字器件的TDO与第三个器件的TDI相连，通过这种方式三个数字器件就构成了一条边界扫描链。

目前业界大多数边界扫描测试方法都是针对图1所示的单链测试进行的，对于同时对两个或者两个以上的边界扫描链进行测试的多链并行测试方法并不多，基本都是需要测试人员手工进行多条边界扫描链的设置，这在大部分的情况下是可行的，但在某些特殊的环境里，比如刀片式服务器中，假如每个刀片上有一个边界扫描链，那么对边界扫描链路的设置进行更改，就需要插拔刀片；反过来，插拔刀片也需要更改边界扫描链路的设置，这样做既影响了系统的正常运行，也不方便。

发明内容

本发明要解决的技术问题是提供一种能够实现多个并行边界扫描链的自动扫描，无需插拔刀片或者更改边界扫描链路的设置，测试效率高、使用简单方便的多链路并行边界扫描测试装置及方法。

为了解决上述技术问题，本发明采用的技术方案为：

一种多链路并行边界扫描测试装置，包括测试控制器，所述测试控制器的输出端口包括边界扫描时钟端口、测试模式选择端口、测试数据输出端口、测试结果输入端口，所述扫描测试装置还包括与待测边界扫描链一一对应的扫描控制单元，所述测试控制器的输出端口还包括用于控制扫描控制单元进行边界扫描或者链路选择的使能信号输出端口，所述扫描控制单元包括用于控制当前待测边界扫描链的选择状态以及转发测试信号的多链路控制逻辑和分别与所述多链路控制逻辑相连的测试数据输入端口、测试结果输出端口、控制器接口、边界扫描链接口，所述控制器接口分别与测试控制器的使能信号输出端口、边界扫描时钟端口、测试模式选择端口相连，所述边界扫描链接口与待测边界扫描链相连，各个所述扫描控制单元之间依次通过测试数据输入端口和测试结果输出端口首尾相连呈链状，链首的扫描控制单元的测试数据输入端口与测试控制器的测试数据输出端口相连，链尾的扫描控制单元的测试结果输出端口与测试控制器的测试结果输入端口相连。

作为上述技术方案的进一步改进：

所述多链路控制逻辑包括用于控制待测边界扫描链选择状态的移位寄存器和用于控制所述边界扫描链接口通断状态的多路选通开关，所述移位寄存器为1位移位寄存器，所述移位寄存器的输入端分别通过多路选通开关与测试控制器的测试数据输出端口相连、通过控制器接口21与测试控制器的使能信号输出端口相连，所述多路选通开关的输入端与测试数据输入端口相连，所述多路选通开关的输出端与扫描控制单元的测试结果输出端口相连，所述多路选通开关的控制端分别与移位寄存器的输出端、测试控制器的使能信号输出端口相连。