[发明专利]一种半导体量子点发光二极管及其制备方法无效
申请号: | 201210089138.4 | 申请日: | 2012-03-29 |
公开(公告)号: | CN102610725A | 公开(公告)日: | 2012-07-25 |
发明(设计)人: | 谭占鳌;李舒生;何少剑;林俊 | 申请(专利权)人: | 华北电力大学 |
主分类号: | H01L33/36 | 分类号: | H01L33/36;H01L51/52;H01L33/00;H01L51/56 |
代理公司: | 北京众合诚成知识产权代理有限公司 11246 | 代理人: | 薄观玖 |
地址: | 102206 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 半导体 量子 发光二极管 及其 制备 方法 | ||
1.一种半导体量子点发光二极管,其特征在于:该半导体量子点发光二极管包括依次层叠的衬底、高功函阳极层、阳极修饰层、空穴传输层、量子点发光层和低功函阴极层,或者该半导体量子点发光二极管包括依次层叠的衬底、高功函阳极层、阳极修饰层、空穴传输层、量子点发光层、电子传输层和低功函阴极层,其中,所述阳极修饰层为氧化钼膜。
2.根据权利要求1所述的半导体量子点发光二极管,其特征在于:所述氧化钼膜以二(乙酰丙酮)氧化钼为前驱体,采用溶液加工的方法制备。
3.根据权利要求2所述的半导体量子点发光二极管,其特征在于:通过二(乙酰丙酮)氧化钼在空气中加热转变而成氧化钼膜。
4.根据权利要求1所述的半导体量子点发光二极管,其特征在于:所述氧化钼膜的厚度为
5.根据权利要求1所述的半导体量子点发光二极管,其特征在于:所述衬底为玻璃或柔性衬底。
6.根据权利要求1所述的半导体量子点发光二极管,其特征在于:所述高功函阳极层为透明导电金属氧化物电极层。
7.根据权利要求1所述的半导体量子点发光二极管,其特征在于:所述低功函阴极层为Ca、Al、Mg或它们的合金。
8.权利要求1至7任意一个权利要求所述的半导体量子点发光二极管的制备方法,其特征在于该方法包括如下步骤:
(a)在衬底上设置高功函阳极层;
(b)在高功函阳极层上旋涂二(乙酰丙酮)氧化钼与溶剂的混合溶液,经烘烤,得到阳极修饰层氧化钼膜;其中,旋涂的转速为1000-5000rpm,烘烤的温度为20-250℃,时间为1分钟到48小时;
(c)在阳极修饰层上依次制备空穴传输层、量子点发光层和低功函阴极层,或者在阳极修饰层上依次制备空穴传输层、量子点发光层、电子传输层和低功函阴极层,得到半导体量子点发光二极管。
9.根据权利要求8所述的方法,其特征在于:步骤(b)中,二(乙酰丙酮)氧化钼与溶剂的混合溶液浓度为1-20mg/mL。
10.根据权利要求8所述的方法,其特征在于:所述溶剂为异丙醇、异辛醇、乙醇、乙酸乙酯或石油醚中的任意一种或它们的组合。
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