[发明专利]一种基于电容层析成像的聚合物熔体温度场测量方法及系统有效

专利信息
申请号: 201210089479.1 申请日: 2012-03-30
公开(公告)号: CN102620855A 公开(公告)日: 2012-08-01
发明(设计)人: 刘桂雄;凌鹏涛;洪晓斌 申请(专利权)人: 华南理工大学
主分类号: G01K7/34 分类号: G01K7/34
代理公司: 北京捷诚信通专利事务所(普通合伙) 11221 代理人: 魏殿绅
地址: 510640 广东*** 国省代码: 广东;44
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 基于 电容 层析 成像 聚合物 体温 测量方法 系统
【权利要求书】:

1.一种基于电容层析成像的聚合物熔体温度场测量方法,其特征在于,所述方法在于,所述方法包括:

A测量已标定的电容式聚合物熔体温度场传感器电容极板间电容值;

B根据电容层析图像重建算法;

C将所测量电容值重构出聚合物熔体介电常数分布;

D建立聚合物熔体介电常数与温度的关系模型;

E根据关系模型将聚合物熔体介电常数分布转换为相对应的聚合物熔体温度场。

2.根据权利要求1所述的基于电容层析成像的聚合物熔体温度场测量方法,其特征在于,所述步骤C具体为:通过测量电容式聚合物熔体温度场传感器电容极板之间电容重构出聚合物熔体介电常数分布。

3.一种基于电容层析成像的聚合物熔体温度场测量系统,其特征在于,所述系统包括:

电容式聚合物熔体温度场传感器,包括电极板、绝缘管道、屏蔽罩、信号线;

聚合物熔体温度场数据采集系统,用于测量已标定的电容式聚合物熔体温度传感器电容极板间电容值;

聚合物熔体温度场成像系统,用所测量电容值推算测量区域内聚合物熔体介电常数分布,并根据聚合物熔体介电常数与温度关系模型将介电常数分布转换为相对应的聚合物熔体温度场。

4.根据权利要求3所述的基于电容层析成像的聚合物熔体温度场测量系统,其特征在于,所述聚合物熔体温度场数据采集系统包括C/V转换电路、放大电路、模数转换器ADC,所述

C/V转换电路,用于将测量电容转换为电压信号;

放大电路,用于将电压进行放大;

模数转换器ADC,用于将电压信号转换为数字电压信号并将数字电压信号发送至PC。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华南理工大学,未经华南理工大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201210089479.1/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top