[发明专利]一种基于光敏二极管的精度可变式光线敏感器及测量方法无效
申请号: | 201210096548.1 | 申请日: | 2012-04-01 |
公开(公告)号: | CN102620709A | 公开(公告)日: | 2012-08-01 |
发明(设计)人: | 王新升;王晓慧;缪远明;管帅;叶剑明 | 申请(专利权)人: | 北京航空航天大学 |
主分类号: | G01C1/00 | 分类号: | G01C1/00;G05B19/042 |
代理公司: | 北京慧泉知识产权代理有限公司 11232 | 代理人: | 王顺荣;唐爱华 |
地址: | 100191*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 光敏 二极管 精度 可变 光线 敏感 测量方法 | ||
1.一种基于光敏二极管的精度可变式光线敏感器,其特征在于:该光线敏感器由电源系统、光敏二极管、测量系统、微处理器和外部接口组成;外部接口与微处理器连接,微处理器与测量系统和电源系统连接,测量系统和光敏二极管及电源系统连接,电源系统与光敏二极管、测量系统和微处理器连接,光敏二极管与电源系统和测量系统连接;
所述电源系统是采用LM2576芯片的固定输出电压型电源系统;
所述光敏二极管是2CU2B;
所述测量系统是采用ADC0809芯片的典型电压测量系统
所述微处理器是8位ATMEGA128单片机;
所述外部接口可以根据用户需要安装。
2.一种基于光敏二极管的精度可变式光线敏感器的测量方法,其特征在于:该方法具体步骤如下:
步骤一:将系统组成件连线和供电:采用ADC0809芯片作为测量系统中的模数转换模块,微处理器是采用ATMEGA128芯片,三枚光敏二极管分别按空间直角坐标系的x、y、z三轴方向安装连接,测量系统将测得三颗光敏二极管上的光强,分别是Ix,Iy,Iz,
Ix=I0cosα,Iy=I0cosβ,Iz=I0cosλ
其中,I0为入射光强,α为入射光矢量与x轴的夹角,β为入射光矢量与y轴的夹角,λ为入射光与z轴的夹角;测量系统将测量值Ix、Iy、Iz读出并传给微处理器,微处理器首先合成入射光矢量强度
再计算出入射光矢量与x、y、z三轴的夹角
α=arccos(Ix/I0),β=arccos(Iy/I0),λ=arccos(Iz/I0)
最后将结果转换为欧拉角或者四元数的形式,进行保存或者发送给其他设备;
步骤二:入射光分解投影:入射光矢量投影到空间直角坐标系的x、y、z三轴上,投影之后的光强为
Ix=I0cosα,Iy=I0cosβ,Iz=I0cosλ;
步骤三:产生反向电流及测量电压:在光敏二极管两端加上反向电压,再串联一个电阻,光敏二极管在受到光照时反向电流随光照增强而增大,通过测量电路中的电流即得到光敏二极管上的光照强度;在电阻的高压端引出测量电压VT,由欧姆定律得电路中电流为I=VT/R,由此得电流I与测量电压VT是正比例关系,即将VT标识为当前的光照强度;
步骤四:测量VT:R1、R2、R3电阻的高压端模拟信号分别接在ADC0809的IN0、IN1、IN2口,正参考REF+端口接VCC,负参考REF-端口接GND,ADC0809上的三个地址端口ADD A、ADD B、ADD C和地址锁存端口ALE分别接在ATMEGA128的PE3、PE2、PE1、PE0口;ADC0809的时钟端口CLK、开始转换端口START、输出允许端口OE分别接在ATMEGA128的PA0、PA1、PA2口;ADC0809的转换完成标志端口EOC接在ATMEGA128的PD0口,ADC0809的数据端口D0~D7口分别接在ATMEGA128的PB0~PB8口,时钟端口CLK频率范围为1MHZ以下;
设备运行时,第一步由ATMEGA128给出地址和地址锁存信号;第二步由ATMEGA给出START信号;第三步等待ADC0809进行模拟量到数字量的转换,直到EOC端口输出高电平;第四步由ATMEGA128给出输出使能OE信号;第五步由ATMEGA128从D0~D7口读出转换结果;到此一次转换结束,如需再次转换,重复第一步到第五步即可;其中,IN0、IN1、IN2对应的地址编码分别是000、001、010;START信号、地址锁存信号是正向脉冲信号,OE信号是高电平信号,OE端口需要在整个数据读取过程中维持高电平;
步骤五:处理计算:入射光矢量为I0=(Ix,Iy,Iz),投影在三正交坐标轴上,照射到光敏二极管上,产生反向电流,引起的VT分别为(Vax,Vay,Vaz),通过数模转换测量到三电压的数字量为(Vdx,Vdy,Vdz),则最终测量到的入射光方向矢量为
R=(-Vdx,-Vdy,-Vdz)
入射光与x、y、z三轴的夹角分别为
其中,从(Vax,Vay,Vaz)到(Vdx,Vdy,Vdz)的误差很小,忽略不计;
从(Ix,Iy,Iz)到(Vax,Vay,Vaz)的误差为系统测量的主要误差,主要来源于光敏二极管个体之间的差异,要减小该误差进行如下操作:给出一个标准的入射光I=(-1,-1,-1),测量是否有Vdx=Vdy=Vdz,若不相等,则调节与光敏二极管串联的电阻大小,使之相等。
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