[发明专利]用于红外中波探测器的小型光学系统

说明书

技术领域

本发明涉及光学元件技术领域，尤其涉及一种用于红外中波探测器的小型光学系统。

背景技术

近年来，红外成像技术及应用在各国受到广泛的重视，并得到蓬勃的发展。红外焦平面探测器技术的日益成熟，为满足各领域的需求提供了良好的基础，进一步促进了红外光学系统的发展。

相对于可见光相机而言，红外相机探测对象是低对比度的弱目标。目标探测能力是衡量红外相机性能的关键指标。红外相机中包括光学系统和红外探测器，提高红外相机探测能力可以采取三种措施，一是采用高灵敏度的制冷型红外探测器；二是增加红外光学系统的有效口径；三是提高红外光学系统的透过率。

与非制冷红外探测器相比，制冷红外型探测器组件体积较大，包括制冷杜瓦组件，杜瓦组件中含有冷光阑。冷光阑只允许视场中的有用光线到达探测器，以减小热辐射背景的影响，为此光学系统要求具有100％的冷光阑效率。现有的用于制冷型红外探测器的光学系统，冷光阑均作为孔径光阑并且位于光学系统的后端。用于非制冷探测器的红外光学系统的孔径光阑的位置可以根据像差校正与体积的需要任意放置，而用于制冷型红外探测器的光学系统的孔径光阑的位置固定，不利于光学系统像差的优化平衡，也不利于光学系统体积的缩小。

随着光学系统有效口径的增大，使红外探测器接收来自目标或背景的红外辐射越来越多，红外相机的探测能力也越强。口径的增大势必增加孔径量像差的校正难度。另外，与可见光相比，红外光的波长较长，光学艾利斑直径较大，从而导致红外相机的分辨率远远低于可见光相机，增加光学系统的焦距是提高红外相机分辨率的有效途径，进而提高红外相机对目标的识别能力。然而，焦距变长会导致红外光学系统的色差难以控制。

与可见光材料相比，红外材料的吸收较大，例如，锗单晶在3.8μm的吸收系数为1.35×10^-2/cm；红外增透薄膜的透过率至少比可见光增透薄膜的透过率低两个百分点，这大大限制了单个红外光学零件透过率；因此，在保证良好成像质量的前提下，追求光学零件数量的最小化，以提高红外光学系统的透过率，是红外相机设计过程中所关注的重点之一。然而，光学零件数量的减少势必影响光学系统像差的校正能力。

在许多场合，只具有单一视场的红外光学系统已远远不能满足要求，双视场红外光学系统应运而生。在两个视场的条件下，保持焦面固定与成像清晰是双视场红外光学系统的基本要求，利用大视场搜索目标，小视场仔细观察目标，在军用与民用领域具有良好的应用前景。

为了使红外相机便于使用，红外相机变得原来越小，小型化趋势明显。具有高分辨率、高灵敏度的红外相机要求红外相机使用体积较大的制冷型探测器，光学系统需要具有大口径、长焦距、成像质量好的特点，这与红外相机的小型化趋势相违背。

发明内容

本发明要解决的技术问题是，提供一种用于红外中波探测器的小型光学系统，实现红外相机小型化的同时保证光学系统仍然具有大口径、长焦距、双视场、成像质量好的特点。

本发明采用的技术方案是，所述用于红外中波探测器的小型光学系统，包括：沿同一光轴从物点到像点依次排列的第一透镜到第四透镜，第一、三、四透镜为具有正光焦度且凸面弯向物方的弯月型透镜，第二透镜为具有负光焦度的双凹透镜、且基于物像交换原则位于使物点和像点共轭的两个位置之一，所述两个位置分别对应光学系统的大视场工作状态和小视场工作状态；

物点在第一透镜和第三透镜之间的中间成像面处第一次成像，第一次成的像通过第四透镜再次成像到红外中波探测器的光敏面上；

设所述光学系统在小视场工作状态下的焦距为fn，第一透镜的直径为D1，第一透镜的焦距为f1，第四透镜的放大率为m4，则0.2≤f1/fn≤0.3，0.7≤f1/D1≤1.2，-3≤m4≤-1.5。

进一步的，所述光学系统中每个透镜的材料为锗、硅、硒化锌或者锗硫系玻璃，所述第一透镜到第四透镜这四个透镜中至少包括上述四种材料中的两种材料的透镜。

进一步的，第一透镜的两个表面均为球面，第二透镜的两个表面至少一个符合非球面方程，第三透镜和第四透镜中每个透镜的两个表面至少一个符合衍射面方程。

进一步的，所述非球面方程中至少包含两项非球面系数；

所述衍射面方程的衍射面系数中至少有一项不为0、且所述衍射面方程相位数的绝对值大于等于4。

进一步的，所述非球面方程为奇次非球面方程或者偶次非球面方程，所述衍射面方程为以奇次非球面方程或者偶次非球面方程为基底的衍射面方程。