[发明专利]一种应用于快速反射率测量的支架

说明书

技术领域

本发明涉及微波毫米波吸波材料的反射率测试技术，尤其涉及一种应用于快速反射率测量的支架，属于微波毫米波测试技术领域。

背景技术

吸波材料广泛地应用于军事和民用领域中。随着隐身技术的迅速发展，对吸波材料吸波性能的要求也越来越高。反射率是用来表征吸波材料稀薄性能的一个重要指标参数，吸波材料反射率的测量对于吸波材料的特性研究具有重要的意义。在吸波材料测量过程中，需要将被测目标支撑到一定的高度，固定转台上以进行测量。但是，我们在实际操作的过程中发现，对于被测材料的固定有比较大的难度，需要反复调整俯仰、高低，而且每次更换材料之后都需要进行固定，校准。这些问题造成反射率测量时间较长，准备繁琐。如何能够快速的进行反射率的测量，同时又不降低测量的准确性？为此，设计出一种用于快速测量反射率的支架，能够保证反射率测量既有比较高的精度，同时具有较高的效率。

发明内容

1、目的：本发明的目的在于提供一种应用于快速反射率测量的支架。此种支架具有低RCS(雷达散射截面)反射，易于加工携带和使用的特点。可应用于雷达吸波材料反射率的快速测量。

2、技术方案：本发明一种应用于快速反射率测量的支架，分为上中下三个部分。

上面部分为L型托撑结构，由金属材料构成，长边为L1×L1×5mm的金属板，短边为L1×L2×5mm的金属板；其中L1、L2表示L型托撑结构的长边和短边边长，5mm为厚度，在L型托撑结构的长边后方连接着相同面积的透波结构，该透波结构是由具有良好透波性能的材料构成，通过上面部分的设计能够将测量样板平稳放置进行固定。

中间部分是金属支撑杆，它在高度方向上朝一侧倾斜，横断面面积由下而上逐渐均匀减小，其横断面呈菱形，金属支撑杆穿过透波材料和标准板连接。

下面部分为一金属托板，金属支撑杆下方与该金属托板连接，并与金属托板所在水平面成45°到60°之间的倾斜角；金属托板为长方体，金属托板上设置有孔，通过螺丝和下面的二维转台连接。

其中，该L型托撑结构中L1的范围在5cm-30cm之间，L2的范围在1cm-5cm之间；

其中，该金属支撑杆长度在40cm-63cm之间，菱形角度在20°到30°之间；

其中，该金属托板长度范围在20cm-50cm之间，宽度范围在20cm-30cm之间，厚度为1cm。

该支架工作程序如下：在使用过程中，将要测量的材料通过粘贴或者其他方式固定在支架的托撑结构上，然后将支架下端固定在二维转台上，然后即可开始测试。更换测试材料时只需重复上述步骤即可。

本发明一种应用于快速反射率测量的支架的优点是：金属结构，结实耐用，菱形金属结构具有较小的RCS能够保证精确测量；同时，L型托撑结构能够方便对待测材料进行固定，提高测试效率。

附图说明

图1表示本发明的快速放射率测量支架的主视图

图2表示本发明的快速反射率测量支架金属支撑杆的截面图

图3表示本发明的快速反射率测量支架的右视图

图中符号说明如下：

β金属支撑杆菱形截面的角度；

①为待测材料；②为L型托撑结构；③为透波材料；为金属支撑杆；⑤为金属托板。

具体实施方式

下面结合附图和具体实施方式对本专利申请作更为具体的描述。

本发明一种应用于快速反射率测量的支架，分为上、中、下三个部分。这里以L1长为18cm，L2长为5cm为例说明。

如图1所示，整个支架由②～⑤构成。分成上中下三个部分。

上面部分在图1中表示为①、②、③，其中，①为待测材料，②为L型托撑结构，由金属材料构成；③为附在托撑结构长边后面的透波材料，选用环氧树脂板，用于对待测材料的固定。此种设计能够将测量样板平稳快速放置在上面进行固定。

中间部分是在图中为编号④的金属支撑杆，它在高度方向上朝一侧倾斜，横断面面积由下而上逐渐均匀减小，其横断面呈菱形，菱形角度为25°，长度为45cm。

下面部分在图中为编号⑤的金属托板，为长方体，长度为50cm，宽度为20cm，厚度为1cm；金属托板上设置有孔，通过螺丝和下面的二维转台连接。

如图2所示，所说的支架下面部分由金属构成，横断面呈菱形。由方程