[发明专利]一种微孔光谱仪

说明书

技术领域

本发明涉及一种小孔透光测试仪，特别是涉及一种微孔光谱仪。

背景技术

国内很多企业生产塑料面板或玻璃面板(例如：手机面板)，在面板上镀有防紫外线膜、保护膜、减光膜、增透膜等。往往一块面板上留有几个小孔，这些生产厂家想知道这些小孔的镀膜效果或整个小孔的透光情况。小孔表面积很小，很难对其进行有效准确的测试。现有的测试方式，大都采用进口高精度分光光度计加特殊附件配置对小孔的透射情况进行测试，设备昂贵，测试也不准确，同时速度也很慢等等。

发明内容

本发明的目的是为了解决现有技术在小孔透光测试中的缺陷，提供一种微孔光谱仪来解决上述问题。

为了实现上述目的，本发明的技术方案如下：

一种微孔光谱仪，包括信号处理器、精密摆杆和光纤、透镜底座，所述信号处理器与透镜底座连接，所述透镜底座连接精密摆杆，所述精密摆杆连接光纤，其特征在于：所述信号处理器内设置有信号处理电路板，所述信号处理电路板外设有外壳，所述外壳上设有USB接口，所述透镜底座设置在所述外壳上表面，所述透镜底座上设置透镜槽，所述透镜槽内设置凸透镜，所述精密摆杆设置光纤孔，所述精密摆杆下设置限位螺栓，所述光纤前端设有金属保护头，所述金属保护头插入光纤孔，所述限位螺母通过螺纹连接固定金属保护头。

上述一种微孔光谱仪，其特征在于：所述透镜底座通过螺栓连接精密摆杆。

上述一种微孔光谱仪，其特征在于：所述精密摆杆前端厚度比后端略薄，所述光纤设置在精密摆杆前端，所述精密摆杆后端设有摆杆高度螺栓。

上述一种微孔光谱仪，其特征在于：所述透镜槽设置在透镜底座前端。

本发明具有的有益效果：光纤对准相对于光度计特殊附件配置的对准方式，其定位精度高、操作方便、速度快。采用高精度光谱仪作为光信号处理设备，仅仅需要0.02秒即可读出小孔在全波段范围内的透射率。而进口高精度分光光度计则需要1分钟左右。解决了生产线需要测试速度快的要求。

附图说明

图1为本发明的整体结构示意图。

图2为本发明的精确摇杆侧视图

图3为本发明的精确摇杆等轴侧图

具体实施方式

为使对本发明的结构特征及所达成的功效有更进一步的了解与认识，用以较佳的实施例及附图配合详细的说明，说明如下：

参看图1和图2，一种微孔光谱仪，包括信号处理器1、精密摆杆3和光纤6、透镜底座2，信号处理器1与透镜底座2连接，透镜底座2连接精密摆杆3，为了便于调节精密摆杆3和透镜底座2夹角位置，透镜底座2通过螺栓8连接精密摆杆3。精密摆杆3连接光纤6，信号处理器1内设置有信号处理电路板，信号处理电路板外设有外壳，外壳上设有USB接口9。信号处理器1能将接收的信号进行数据分析，并存储，通过USB接口9上插入数据线连接电脑终端，将数据输入电脑。透镜底座2设置在外壳上表面，透镜底座2上设置透镜槽4，为了使透镜槽4能更准确的接收到光纤信号，透镜槽4设置在透镜底座前端。透镜槽4随着光纤种类不同接收信号的范围也会不同，透镜槽4的大小也随之变化，位置也有相应调整。透镜槽4内设置凸透镜，精密摆杆3设置光纤孔，精密摆杆3下设置限位螺栓10，光纤前端设有金属保护头5，金属保护头5插入光纤孔，限位螺栓10通过螺纹连接固定金属保护头5。

参见图2和图3，为了安装光纤的精度更高，精密摆杆3前端厚度比后端略薄，光纤6设置在精密摆杆3前端，精密摆杆后端设有摆杆高度螺栓7。若后端与前端一样薄，则无法保证摆杆的强度，但前端与后端一样厚，则限位螺栓10无法拧紧到位，这样光纤6不能准确照射到凸透镜上。摆杆高度螺栓7可以调节精密摆杆3的位置，使精密摆杆3与透镜底座2形成的夹角能满足光纤信号处于凸透镜反射范围内。

在使用过程中，测试物体位于精确摇杆3和透镜底座2之间，将测试孔对准透镜，精密摆杆3压住测试物体，光纤信号通过光纤5金属保护头6经过光纤孔，穿过测试物体，射到凸透镜上，经过凸透镜反射到信号处理器内，将信号在内部经过CCD光谱分析，存储数据，最后将数据通过与USB接口9连接的导线传输到电脑终端，进行后续处理。

综上所述，仅为本发明的较佳实施例而已，并非用来限定本发明实施的范围，凡依本发明权利要求范围所述的形状、构造、特征及精神所为的均等变化与修饰，均应包括于本发明的权利要求范围内。