[发明专利]炭素原料煅烧温度的检测方法无效
| 申请号： | 201210103497.0 | 申请日： | 2012-04-10 |
| 公开（公告）号： | CN103364420A | 公开（公告）日： | 2013-10-23 |
| 发明（设计）人： | 苗荣荣;吴志红;丁晓阳;李杰;杜旭 | 申请（专利权）人： | 宁波杉杉新材料科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/20 | 分类号： | G01N23/20 |
| 代理公司： | 上海智信专利代理有限公司 31002 | 代理人： | 朱水平;钟华 |
| 地址： | 315177 浙江省*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 炭素 原料 煅烧 温度 检测 方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种炭素原料煅烧温度的检测方法，其特征在于，其包括下述步骤：
(1)将炭素原料煅烧后样品，使用X-射线衍射测定，将获得的X-射线衍射数据，代入Debye-Scherrer公式计算获得晶粒尺寸Dhkl，所述的Debye-Scherrer公式为：Dhkl＝kλ/βcosθ；其中，Dhkl为沿垂直于晶面hkl方向的晶粒直径，单位nm；k为Scherrer常数；λ为入射X射线波长，单位nm；θ为布拉格衍射角，单位°；β为衍射峰的半高峰宽；
(2)用步骤(1)测得的晶粒尺寸Dhkl代入公式y＝1740-11933/x即得炭素原料煅烧温度，其中，y为炭素原料煅烧温度，单位℃，x为晶体粒径Dhkl。
2.如权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述的k的数值为0.89。
3.如权利要求1所述的检测方法，其特征在于，当X射线源使用Cuka时，所述的波长λ为0.15406nm，当X射线源使用Cuka1时，所述的波长λ为0.15418nm。
4.如权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述的X-射线衍射测定条件为：用PANalytical X衍射仪，以CuKα单色光辐射，管电压45kV，电流40mA，在2θ为14°～35°的范围测定。
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