[发明专利]阵列型光模块

说明书

技术领域

本发明涉及容易并且廉价地制造测量各通道的信号强度的阵列型光模块的技术。

背景技术

作为光纤通信的复用方式，存在波分复用方式。此处，如果波分复用信号的各波长通道的信号强度不齐，则波分复用信号的各波长通道的S/N变得不齐，而无法确保充分的系统余量。因此，使用阵列型光模块，来测量波分复用信号的各波长通道的信号强度。然后，根据其测量结果，使用掺铒光纤放大器，来调节波分复用信号的各波长通道的信号强度。

在专利文献1-4中公开了测量单一波长通道的信号强度的光模块，能够使这些光模块阵列化来制造测量多个波长通道的信号强度的阵列型光模块。

专利文献1公开的在线监视器由入射光纤、出射光纤、柱透镜、包括透光部的反射膜以及受光检测元件构成。单一波长通道的光信号经由入射光纤以及柱透镜而到达反射膜。用受光检测元件来检测到达反射膜中的透光部的光信号。到达反射膜中的反射部的光信号经由柱透镜以及出射光纤而输出到传送路径。

专利文献2公开的光发送接收模块由发光元件、受光元件、波长选择滤色片、包括光纤以及钻孔的壁面构成。由发光元件生成发送光信号，通过波长选择滤色片被单色化而发送到光纤。从光纤接收接收光信号，被波长选择滤色片反射而用受光元件检测。此处，发送光信号在被波长选择滤色片反射了时，不一定输入到受光元件。因此，通过在发光元件以及波长选择滤色片之间的壁面中配置钻孔，使由波长选择滤色片反射了的发送光信号在壁面的钻孔中反射而不会使其输入到受光元件。

专利文献3公开的单向性光功率监视器由入射光纤、出射光纤、GRIN透镜、TAP膜、光二极管、以及插入安装GRIN透镜及光二极管的圆孔的中心轴偏移了的套构成。单一波长通道的光信号经由入射光纤以及GRIN透镜而到达TAP膜。用光二极管来检测由TAP膜透射了的光信号。由TAP膜反射了的光信号经由GRIN透镜以及出射光纤而输出到传送路径。此处，虽然应使用光二极管来检测来自入射光纤的光信号，但能够用光二极管来检测来自出射光纤的返回光。因此，通过在插入安装GRIN透镜以及光二极管的圆孔的连接位置配置中间壁，而使来自出射光纤的返回光在中间壁中反射而不使其输入到光二极管。

专利文献4公开的光监视模块由入射光纤、出射光纤、入射用透镜部、出射用透镜部、分束器以及光电二极管构成。单一波长通道的光信号经由入射光纤以及入射用透镜部而到达分束器。用光电二极管来检测由分束器透射了的光信号。由分束器反射了的光信号经由出射用透镜部以及出射光纤而输出到传送路径。此处，为了使从入射用透镜部出射的光信号导光到分束器的方向，调节入射用透镜部的出射端处的入射用透镜部相对中心轴的倾斜角度。另外，为了使由分束器反射了的光信号导光到出射光纤的方向，调节出射用透镜部的入射端处的出射用透镜部相对中心轴的倾斜角度。

【专利文献1】日本特开平2-141709号公报

【专利文献2】日本特开2007-057859号公报

【专利文献3】日本特开2007-206584号公报

【专利文献4】日本专利第3798408号说明书

发明内容

能够使专利文献1-4公开的测量单一波长通道的信号强度的光模块阵列化来制造测量多个波长通道的信号强度的阵列型光模块。但是，需要大量的工序，无法容易并且廉价地制造，无法小型化。

在专利文献1公开的在线监视器中，需要在小面积的反射膜中精密地设定透光部的配置位置。在专利文献2公开的光发送接收模块中，需要在小面积的壁面中精密地设定钻孔的配置位置。在专利文献3公开的单向性光功率监视器中，需要使插入安装GRIN透镜以及光二极管的圆孔的中心轴偏移，构造复杂且加工困难。在专利文献4公开的光监视模块中，需要精密地调节入射用透镜部的出射端处的入射用透镜部相对中心轴的倾斜角度，并需要精密地调节出射用透镜部的入射端处的出射用透镜部相对中心轴的倾斜角度。

还能够应用专利文献1公开的在线监视器，配置光纤阵列以及受光元件阵列来制造测量多个波长通道的信号强度的阵列型光模块。此处，为了防止波分复用信号的各波长通道之间的串扰，需要在受光元件阵列中精密地设定针孔的配置位置。但是，在受光元件的封装中，需要同时进行受光元件的气密密封加工以及针孔的精密配置。因此，无法容易并且廉价地制造，无法使高密度阵列化以及低串扰共存。

因此，为了解决所述课题，本发明的目的在于，提供在测量各通道的信号强度的阵列型光模块中，容易并且廉价地制造，而且使高密度阵列化以及低串扰共存。