[发明专利]光学触控系统及光学触控位置检测方法无效
申请号: | 201210103739.6 | 申请日: | 2012-04-10 |
公开(公告)号: | CN103324357A | 公开(公告)日: | 2013-09-25 |
发明(设计)人: | 梁次震;柳昀呈;林建宏 | 申请(专利权)人: | 广达电脑股份有限公司 |
主分类号: | G06F3/042 | 分类号: | G06F3/042 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 史新宏 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光学 系统 位置 检测 方法 | ||
1.一种光学触控系统,用以检测一触控区域上的触控物的位置,包括:
至少一主动光源,照亮该触控区域;
一镜头模块,具有两透镜及一影像感测器,使该触控物分别通过该两透镜于该影像感测器形成两个影像;以及
一处理器,根据该两个影像在该影像感测器的影像位置来计算该触控物的位置,
其中该镜头模块配置于该触控区域的周边,使该两透镜的视野都可涵盖该触控区域,并且完全成像于该影像感测器上。
2.如权利要求1所述的光学触控系统,其中该两个影像在该影像感测器中的影像位置分别对应两个角度参数,该角度参数是指该触控物的位置至该两透镜中一个的连线与一既定的基准线的夹角。
3.如权利要求2所述的光学触控系统,其中一平面座标系统用以定义该触控区域的平面各点位置,该处理器利用该两个角度参数及该两透镜所在的位置座标计算出该触控物的位置座标。
4.如权利要求3所述的光学触控系统,其中该既定的基准线平行于x轴的直线,则该处理器根据以下公式计算出该触控物的位置座标(x,y):
(y-y1)/(x-x1)=tanθ1
(y-y2)/(x-x2)=tanθ2
其中(x1,y1)是该两透镜的第1透镜的位置座标,θ1是该第1透镜所对应的角度参数,(x2,y2)是该两透镜第2透镜的位置座标,θ2是该第2透镜所对应的角度参数。
5.如权利要求4所述的光学触控系统,其中该第1透镜的该角度参数θ1对应该第1透镜于该影像感测器的成像范围内的一像素位置,该第2透镜的该角度参数θ2对应该第2透镜于该影像感测器的成像范围内的一像素位置,该角度参数θ1、θ2根据该第1透镜及该第2透镜于该影像感测器中成像的两个像素位置而定。
6.如权利要求1所述的光学触控系统,其中该主动光源设置于该镜头模块上,并提供足够强度的光,使该触控物可将来自该主动光源的光反射回该镜头模块。
7.如权利要求1所述的光学触控系统,还包括:至少一反向反射镜,配置于该触控区域的周边,将该主动光源发出的光反射回该镜头模块,使该影像感测器撷取的影像背景为亮背景。
8.如权利要求1所述的光学触控系统,其中该主动光源为红外光发光二极管或红外光激光二极管,且该影像感测器的影像检测范围为红外线影像。
9.一种光学触控位置检测方法,包括:
使用一具有两个透镜及一个影像感测器的镜头模块来接收一触控物的影像;
根据该触控物通过该两个透镜成像于该影像感测器的两个影像位置来计算该触控物的位置。
10.如权利要求9所述的光学触控位置检测方法,其中该两个影像位置分别对应两个角度参数,该角度参数指该触控物的位置至该两个透镜中一个的连线与一既定的基准线的夹角。
11.如权利要求10所述的光学触控位置检测方法,还包括:
使用一平面座标系统来定义该触控区域的平面各点位置;以及
利用该两个角度参数及该两个透镜所在的位置座标计算出该触控物的位置座标。
12.如权利要求11所述的光学触控位置检测方法,其中该既定的基准线平行于x轴的直线,则该触控物的位置座标(x,y)根据以下公式求得:
(y-y1)/(x-x1)=tanθ1
(y-y2)/(x-x2)=tanθ2
其中(x1,y1)是该两个透镜的第1透镜的位置座标,θ1是该第1透镜所对应的角度参数,(x2,y2)是该两个透镜第2透镜的位置座标,θ2是该第2透镜所对应的角度参数。
13.如权利要求12所述的光学触控位置检测方法,其中该第1透镜的该角度参数θ1对应该第1透镜于该影像感测器的成像范围内的一像素位置,该第2透镜的该角度参数θ2对应该第2透镜于该影像感测器的成像范围内的一像素位置,该角度参数θ1、θ2根据该第1透镜及该第2透镜于该影像感测器中成像的两个像素位置而定。
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