[发明专利]一种继电保护装置单板自动测试方法有效
申请号: | 201210105010.2 | 申请日: | 2012-04-11 |
公开(公告)号: | CN102621432A | 公开(公告)日: | 2012-08-01 |
发明(设计)人: | 徐刚;张涛;肖鲲;刘安 | 申请(专利权)人: | 北京四方继保自动化股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00 |
代理公司: | 北京金阙华进专利事务所(普通合伙) 11224 | 代理人: | 吴鸿维 |
地址: | 100085 北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 保护装置 单板 自动 测试 方法 | ||
1.一种继电保护装置单板自动测试方法,其特征在于,所述自动测试方法包括以下步骤:
(1)将自动测试程序做为数据包存放在测试后台;
(2)在继电保护装置各单板的应用程序中,设置一个钩子函数用来响应自动测试程序数据包消息;
(3)当需要对继电保护装置单板进行测试时,测试后台将所述自动测试程序下传至相应的继电保护装置单板;
(4)当继电保护装置单板中的钩子函数接收到该数据包时,将所述数据包存放到单板中的一个可执行RAM区,之后判断自动测试程序是否校验通过
(5)自动测试程序校验通过后应用程序跳转到RAM区,开始执行自动测试程序,所述自动测试程序首先判断是否需要测试RAM区,如需要将测试程序转移到flash中运行测试RAM区是否完好,测试完成后再将程序移回RAM区进入测试服务响应流程,如不需要测试RAM区,则直接进入测试服务响应流程;
(6)测试服务响应流程初始化完毕后,等待测试后台发送的测试服务命令,接到测试服务命令后,开始传送测试配置信息,测试配置信息传送成功后进行单项测试,直到响应完所有的测试服务命令后退出测试程序;
(7)测试进度和测试结果通过待测单板上的指定端口实时发送至上位机显示,当测试结束后单板掉电并再次上电,应用程序自检RAM时,清理可执行RAM区数据包,测试程序被自动删除。
2.根据权利要求1所述的继电保护装置单板自动测试方法,其特征在于:
在步骤(1)中,将针对继电保护装置单板的各个硬件组成部分的独立的自动测试程序编译成可执行代码,形成数据包,所述数据包包括针对某个硬件组成部分的测试方法、流程、判据和规约。
3.根据权利要求2所述的继电保护装置单板自动测试方法,其特征在于:
所述数据包可以在使用时现生成,也可预先生成后保存。
4.根据权利要求1所述的继电保护装置单板自动测试方法,其特征在于:
在步骤(3)中,当将自动测试程序分别下载到两个待测单板上时,两块待测单板通过背板相连自动相互识别,一方作为服务器端,另一方作为测试端,对测试端单板进行功能测试,当测试完毕后两板互换角色,对另一块单板进行测试。
5.根据权利要求1所述的继电保护装置单板自动测试方法,其特征在于:
在步骤(3)中,当将自动测试程序分别下载到两个待测单板上时,通过硬件跳线人为设置哪块单板作为服务器端,另一块作为测试端。
6.根据权利要求1所述的继电保护装置单板自动测试方法,其特征在于:
所述自动测试程序可以对单板上内存和flash的存储单元进行全面的测试。在测试过程中,可以将自动测试程序从可执行RAM区导入到flash中测试全部内存,或从将自动测试程序从flash导入到可执行RAM区中测试全部flash。
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