[发明专利]光掩模用基板、光掩模以及图案转印方法有效
申请号: | 201210105308.3 | 申请日: | 2012-04-11 |
公开(公告)号: | CN102736398A | 公开(公告)日: | 2012-10-17 |
发明(设计)人: | 土屋雅誉;池边寿美 | 申请(专利权)人: | HOYA株式会社 |
主分类号: | G03F1/38 | 分类号: | G03F1/38;G03F7/20;G02B5/20 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 李辉;黄纶伟 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 光掩模用基板 光掩模 以及 图案 方法 | ||
1.一种光掩模用基板,其用于在第1主表面上形成转印用图案而成为光掩模,该光掩模用基板的特征在于,
在四边形的所述第1主表面上的形成所述转印用图案的图案区域之外,在所述第1主表面的相对的两边附近,具有包含抵接面的保持区域,当曝光机保持所述光掩模时,保持部件与所述抵接面抵接,
关于所述保持区域,在设该保持区域内的、处于与所述两边垂直的直线上的相隔P的任意两点的高低差是Zsx时的[Zsx/P]为平坦度指数Fsx,设该保持区域外的、处于与所述两边垂直的直线上的相隔P的任意两点的高低差是Zex时的[Zex/P]为平坦度指数Fex时,满足Fsx≤Fex,
其中,所述Zsx和Zex的单位是μm,所述P的单位是mm。
2.一种光掩模用基板,其用于在第1主表面上形成转印用图案而成为光掩模,该光掩模用基板的特征在于,
在四边形的所述第1主表面上的形成所述转印用图案的图案区域之外,在所述第1主表面的相对的两边附近,具有包含抵接面的保持区域,当曝光机保持所述光掩模时,保持部件与所述抵接面抵接,
关于所述保持区域,在设该保持区域内的、处于与所述两边垂直的直线上的相隔P的任意两点的高低差是Zsx时的[Zsx/P]为平坦度指数Fsx时,满足Fsx≤0.08,
其中,所述Zsx的单位是μm,所述P的单位是mm。
3.根据权利要求1或2所述的光掩模用基板,其特征在于,
所述保持区域是所述第1主表面上的与所述两边平行的带状区域,所述带状区域分别被夹在与所述两边分别相隔10mm的直线和相隔50mm的直线之间。
4.根据权利要求1或2所述的光掩模用基板,其特征在于,
所述相隔距离P满足5mm≤P≤15mm。
5.一种光掩模用基板,其用于在第1主表面上形成转印用图案而成为光掩模,该光掩模用基板的特征在于,
在四边形的所述第1主表面上的形成所述转印用图案的图案区域之外,在所述第1主表面的相对的两边附近,具有保持区域,当曝光机保持所述光掩模时,保持部件与所述保持区域抵接,
关于所述保持区域,
在设该保持区域内的、处于与所述两边垂直的直线上的相隔P的任意两点的高低差是Zsx时的[Zsx/P]为平坦度指数Fsx时,满足Fsx≤0.08,
并且,在设该保持区域内的、处于与所述两边平行的直线上的相隔P的任意两点的高低差是Zsy时的[Zsy/P]为平坦度指数Fsy时,满足Fsy≤0.08,
其中,所述Zsx和Zsy的单位是μm,所述P的单位是mm。
6.根据权利要求1、2或5所述的光掩模用基板,其特征在于,
所述第1主表面为长方形,所述保持区域被设为在所述第1主平面上的所述图案区域之外的、所述第1主表面的相对的长边各自的附近,与所述长边平行的带状区域。
7.一种光掩模用基板,其用于在第1主表面上形成转印用图案而成为光掩模,该光掩模用基板的特征在于,
在四边形的所述第1主表面上的形成所述转印用图案的图案区域之外,在所述第1主表面的四边各自的附近具有包含抵接面的保持区域,当曝光机保持所述光掩模时,保持部件与所述抵接面抵接,
在所述保持区域中,针对各个该保持区域,在设该保持区域内的、处于与所述四边中附近的一边垂直的直线上的相隔P的任意两点的高低差是Zsa时的[Zsa/P]为平坦度指数Fsa时,满足Fsa≤0.08,并且,
所述保持区域分别是被夹在与附近的所述四边中的一边相隔10mm的直线和相隔50mm的直线之间的、与附近的所述四边中的一边平行的带状区域,
其中,所述Zsa的单位是μm,所述P的单位是mm。
8.根据权利要求1、2、5和7中的任意一项所述的光掩模用基板,其特征在于,
在所述透明基板的厚度为T时,所述第1主表面的所述保持区域内的平坦度指数Fsx满足Fsx≤(1/T)×3.0,
其中,所述T的单位是mm。
9.根据权利要求1、2和5中的任意一项所述的光掩模用基板,其特征在于,
不论在与所述两边垂直的方向上所述两点的位置如何,所述保持区域内的所述两点的高低的相互关系都不变。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于HOYA株式会社,未经HOYA株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201210105308.3/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种直流电阻箱检定装置
- 下一篇:信息交互系统中的供电电压正向检测电路
- 同类专利
- 专利分类
G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F1-00 用于图纹面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其专门适用于此的容器;其制备
G03F1-20 .用于通过带电粒子束(CPB)辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如通过电子束;其制备
G03F1-22 .用于通过100nm或更短波长辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射线掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制备
G03F1-36 .具有临近校正特征的掩膜;其制备,例如光学临近校正(OPC)设计工艺
G03F1-38 .具有辅助特征的掩膜,例如用于校准或测试的特殊涂层或标记;其制备