[发明专利]光电转换装置无效
申请号: | 201210106953.7 | 申请日: | 2012-04-12 |
公开(公告)号: | CN102769020A | 公开(公告)日: | 2012-11-07 |
发明(设计)人: | 郑胜在;南毓铉;全基元 | 申请(专利权)人: | 三星SDI株式会社;三星电子株式会社 |
主分类号: | H01L27/144 | 分类号: | H01L27/144 |
代理公司: | 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 | 代理人: | 韩明星 |
地址: | 京畿道*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光电 转换 装置 | ||
1.一种光电转换装置,所述光电转换装置包括:
第一光电转换单元,在基底上并具有第一能带隙;
第二光电转换单元,具有与第一能带隙不同的第二能带隙,第二光电转换单元在第一光电转换单元上;
中间单元,在第一光电转换单元和第二光电转换单元之间,中间单元包括第一中间层和第二中间层的堆叠件,第一中间层和第二中间层中的每层的折射率小于第一光电转换单元的折射率,第一中间层具有第一折射率,第二中间层具有小于第一折射率的第二折射率。
2.如权利要求1所述的装置,其中,中间单元在堆叠件中包括至少一个第一中间层,并且在堆叠件中包括与第一中间层交替地布置的至少一个第二中间层。
3.如权利要求1所述的装置,其中,第一中间层的电导率高于第二中间层的电导率。
4.如权利要求3所述的装置,其中:
第一中间层和第二中间层掺杂有n型杂质或p型杂质,
第一中间层和第二中间层中的n型杂质和p型杂质的浓度分别小于1at%。
5.如权利要求3所述的装置,其中:
第一中间层和第二中间层掺杂有n型杂质或p型杂质,
两个n型第一中间层分别设置在中间单元的最外侧,使得第一光电转换单元与所述两个n型第一中间层中的一层直接接触,并且第二光电转换单元与所述两个n型第一中间层中的另一层直接接触。
6.如权利要求5所述的装置,其中:
第一光电转换单元包括由非晶硅形成的第一本征硅层、设置在第一本征硅层和基底之间的第一类型导电层以及设置在第一本征硅层上的第二类型导电层,
第二光电转换单元包括由包含多个晶体的结晶硅形成的第二本征硅层、设置在第二本征硅层和中间单元之间的第三类型导电层以及设置在第二本征硅层上的第四类型导电层。
7.如权利要求3所述的装置,其中:
第一中间层和第二中间层掺杂有n型杂质或p型杂质,
n型第一中间层和p型第一中间层分别设置在中间单元的最外侧,第一光电转换单元与所述n型第一中间层和p型第一中间层中的一层直接接触,第二光电转换单元与所述n型第一中间层和p型第一中间层中的另一层直接接触。
8.如权利要求7所述的装置,其中:
第一光电转换单元包括由非晶硅形成的第一本征硅层,第一本征硅层与n型第一中间层接触,
第二光电转换单元包括由包含多个晶体的结晶硅形成的第二本征硅层,第二本征硅层与p型第一中间层接触。
9.如权利要求3所述的装置,其中:
第一中间层和第二中间层掺杂有n型杂质或p型杂质,
第一中间层和第二中间层包含SiOx:H、SiCx:H和SiNx:H中的至少一种。
10.如权利要求1所述的装置,其中,第一中间层的折射率在2.3至3.0的范围内,第二中间层的折射率在1.6至2.1的范围内。
11.如权利要求10所述的装置,其中,第一中间层的电导率大于10-3(Ωcm)-1,第二中间层的电导率小于10-4(Ωcm)-1。
12.如权利要求10所述的装置,其中,第一中间层的厚度为10至500第二中间层的厚度为50至1500
13.如权利要求10所述的装置,其中,第一中间层的氧浓度小于40at%,第二中间层的氧浓度为40at%至70at%。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
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H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的