[发明专利]适用于三坐标测试仪的水平校准的装置无效
申请号: | 201210107131.0 | 申请日: | 2012-04-13 |
公开(公告)号: | CN102645191A | 公开(公告)日: | 2012-08-22 |
发明(设计)人: | 陆庆年 | 申请(专利权)人: | 苏州怡信光电科技有限公司 |
主分类号: | G01B21/00 | 分类号: | G01B21/00 |
代理公司: | 南京纵横知识产权代理有限公司 32224 | 代理人: | 董建林 |
地址: | 215129 江苏省苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 适用于 坐标 测试仪 水平 校准 装置 | ||
技术领域
本发明涉及一种三坐标测试仪的校准装置,具体涉及适用于三坐标测试仪的水平校准的装置。
背景技术
三坐标测试仪是一种新型高效的精密测试仪器。其原理是将被测量的零件放入测试仪容许的空间里,精密地测量出零件的X、Y、Z三个坐标的数值。作为一种精密仪器,三坐标测试仪在使用之前需要进行严格的校准,水平校准装置就应运而生。而市场上目前广泛使用的水平校准的装置都存在结构复杂,操作不便等问题。
发明内容
为解决现有技术的不足,本发明的目的在于提供一种结构简单、操作便利快捷的适用于三坐标测试仪的水平校准的装置。
为了实现上述目标,本发明采用如下的技术方案:
适用于三坐标测试仪的水平校准的装置,其特征在于,包括:用于使其固定在三坐标测试仪测试平台上的竖直的支撑杆,与上述支撑杆构成固定连接的接触测试仪,上述支撑杆底端形成台阶、其顶端形成有定位套筒,上述定位套筒内形成有放置孔,上述接触测试仪包括:用于与上述放置孔配合的连接部,设置在上述连接部顶端的主体外壳,设置在上述主体外壳顶端的向竖直方向伸出的接触探头,能接收上述接触探头探测结果的控制电路、受上述控制电路控制能够显示接触探头探测结果的仪表盘。
前述的适用于三坐标测试仪的水平校准的装置,其特征在于,上述接触探头与上述主体外壳构成可弹性回复的转动连接。
前述的适用于三坐标测试仪的水平校准的装置,其特征在于,上述主体外壳设有与上述控制电路电连接并受到其控制的指示灯。
前述的适用于三坐标测试仪的水平校准的装置,其特征在于,上述定位套筒侧壁设有一个以上通孔,上述通孔内设有用于锁紧上述连接部的螺栓。
前述的适用于三坐标测试仪的水平校准的装置,其特征在于,上述通孔在圆周方向均匀的分布在上述定位套筒侧壁上。
本发明的有益之处在于:本发明的适用于三坐标测试仪的水平校准的装置结构简单可靠,操作便利快捷,且能够更加直观地观察和校准。
附图说明
图1是本发明的的适用于三坐标测试仪的水平校准的装置的一种优选实施例的结构示意图。
图中附图标记的含义:1、支撑杆,2、接触测试仪,3、台阶,4、定位套筒,5、连接部,6、主体外壳,7、接触探头,8、仪表盘,9、指示灯,10、通孔,11、螺栓。
具体实施方式
以下结合附图和具体实施例对本发明作具体的介绍。
参见图1,本发明的适用于三坐标测试仪的水平校准的装置,包括:支撑杆1和接触测试仪2两大部分。其中,支撑杆1用于使水平校准装置固定在三坐标测试仪测试平台上,成竖直形状;接触测试仪2与支撑杆1构成固定连接,用于进行水平校准。
支撑杆1底端形成台阶3、顶端形成定位套筒4,台阶3用于与三坐标测试仪的测试平台相配合,定位套筒4内则形成有放置孔(图中未示出),用于与接触测试仪2固定。
相应地,接触测试仪2包括:与放置孔配合的连接部5,设置在连接部5顶端的主体外壳6,设置在主体外壳6顶端的向竖直方向伸出的接触探头7,能接收接触探头7探测结果的控制电路受控制电路控制能够显示接触探头7探测结果的仪表盘8。需要说明的是,控制电路必然设置在主体外壳6的内部,所以图中未示出控制电路,但这是本领域普通技术人员很容易理解的,所以此处不作赘述。
为了能够灵敏地进行校准,接触探头7与主体外壳6最好构成可弹性回复的转动连接。从而能够实现连续、不间断地可靠探测和校准。
作为一种优选方案,主体外壳6设有与控制电路电连接并受到其控制的指示灯9。在实际检测和校准过程中,我们可以设定一个允许的误差值,一旦三坐标测试仪的水平度超出该允许的误差值,指示灯9即显示为亮,以使操作者能够更加直观地观察和校准。
我们知道,在实际校准中,为了适应不同的高度,水平校准装置的高度应当是可以调节的,所以定位套筒4的放置孔与接触测试仪2的连接部5构成的是可滑动连接,为了将两者可靠地锁紧,在定位套筒4侧壁设有一个以上通孔10,在通孔10内设有用于锁紧上述连接部5的螺栓11。作为一种优选方案,如图1中所示,通孔10在圆周方向均匀地分布在定位套筒4侧壁上。
以上显示和描述了本发明的基本原理、主要特征和优点。本行业的技术人员应该了解,上述实施例不以任何形式限制本发明,凡采用等同替换或等效变换的方式所获得的技术方案,均落在本发明的保护范围内。
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