[发明专利]ZnO基透明电极发光二极管及其制备方法无效

专利信息
申请号: 201210109010.X 申请日: 2012-04-14
公开(公告)号: CN102646767A 公开(公告)日: 2012-08-22
发明(设计)人: 叶志镇;陈丹;黄靖云;张昊翔;江忠永 申请(专利权)人: 杭州士兰明芯科技有限公司
主分类号: H01L33/14 分类号: H01L33/14;H01L33/42;H01L33/00
代理公司: 浙江杭州金通专利事务所有限公司 33100 代理人: 刘晓春
地址: 310018 浙江省杭州*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: zno 透明 电极 发光二极管 及其 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种ZnO基透明电极发光二极管,其特征在于包括:

——蓝宝石衬底(1);

——缓冲层(2)设置于所述的蓝宝石衬底(1)上;

——n型GaN层(3)设置于所述的缓冲层(2)上;

——n型AlGaN层(4)设置于所述的n型GaN层(3)上;

——量子阱(5)设置于所述的n型AlGaN层(4)上;

——p型AlGaN层(6)设置于所述的量子阱(5)上;

——p型GaN层(7)设置于所述的p型AlGaN层(6)上;

——n型GaN薄层(8)设置于所述的p型GaN层(7)上;

——ZnO基电流扩展层(9)设置于所述的n型GaN薄层(8)上;

——电极金属(12)设置于所述的n型GaN层(3)的台阶上和所述的ZnO基电流扩展层(9)上;

——钝化层(13)覆盖于所述的n型GaN层(3)台阶上除电极金属(12)之外的区域和所述的ZnO基电流扩展层(9)上。

2.根据权利要求1所述的ZnO基透明电极发光二极管,其特征在于所述的n型GaN薄层(8)的厚度为1~20nm,电阻率为10-4~10-3Ω·cm。

3.根据权利要求1所述的ZnO基透明电极发光二极管,其特征在于所述的ZnO基电流扩展层(9)为B、Al、Ga或In掺杂的ZnO薄膜,厚度为100~400nm,电阻率为10-4~10-3Ω·cm。

4.制备如权利1要求所述的ZnO基透明电极发光二极管的方法,包括如下步骤:

1) 采用金属有机化学气相沉积法在蓝宝石衬底(1)上依次逐层生长缓冲层(2)、n型GaN层(3)、n型AlGaN层(4),量子阱(5)、p型AlGaN层(6)、p型GaN层(7)、n型GaN薄层(8),得到外延片;

2) 对外延片进行清洗;

3) 在外延片上沉积ZnO基电流扩展层(9);

4) 退火处理;

5) 对ZnO基电流扩展层(9)实施光刻,形成ZnO薄膜覆盖的p电极区域(10);

6) 在n型GaN层(3)上刻蚀台阶(11);

7)在ZnO基电流扩展层(9)和n型GaN层(3)的台阶上依次沉积电极金属(12)和钝化层(13),所述的钝化层(13)覆盖在电极金属(12)之上;

 8) 刻蚀露出电极金属(12),制得ZnO基透明电极发光二极管。

5.根据权利要求4所述的ZnO基透明电极发光二极管的制备方法,其特征在于所述的n型GaN薄层(8)的厚度为1~20nm,电阻率为10-4~10-3Ω·cm。

6.根据权利要求4所述的ZnO基透明电极发光二极管的制备方法,其特征在于所述的ZnO基电流扩展层(9) 为B、Al、Ga或In掺杂的ZnO薄膜,厚度为100~400nm,电阻率为10-4~10-3Ω·cm。

7.根据权利要求4所述的ZnO基透明电极发光二极管的制备方法,其特征在于所述的步骤3)中沉积ZnO基电流扩展层(9)的方法为电子束蒸发、磁控溅射或脉冲激光沉积。

8.根据权利要求4所述的ZnO基透明电极发光二极管的制备方法,其特征在于所述的步骤4)中退火处理的气氛为真空、氩气或氮气,退火温度为500~900℃,退火时间为1~40分钟。

9.根据权利要求4所述的ZnO基透明电极发光二极管的制备方法,其特征在于所述的步骤5)中的光刻腐蚀液为盐酸、硝酸、硫酸、氨水、氢氧化钠溶液或氢氧化钾溶液。

10.根据权利要求4所述的ZnO基透明电极发光二极管的制备方法,其特征在于所述的步骤6)中刻蚀方法为电感耦合等离子体刻蚀或反应离子刻蚀;所述的步骤7)中沉积电极金属的方法为电子束蒸发或热蒸发。

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