[发明专利]ZnO基透明电极发光二极管及其制备方法无效
申请号: | 201210109010.X | 申请日: | 2012-04-14 |
公开(公告)号: | CN102646767A | 公开(公告)日: | 2012-08-22 |
发明(设计)人: | 叶志镇;陈丹;黄靖云;张昊翔;江忠永 | 申请(专利权)人: | 杭州士兰明芯科技有限公司 |
主分类号: | H01L33/14 | 分类号: | H01L33/14;H01L33/42;H01L33/00 |
代理公司: | 浙江杭州金通专利事务所有限公司 33100 | 代理人: | 刘晓春 |
地址: | 310018 浙江省杭州*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | zno 透明 电极 发光二极管 及其 制备 方法 | ||
1.一种ZnO基透明电极发光二极管,其特征在于包括:
——蓝宝石衬底(1);
——缓冲层(2)设置于所述的蓝宝石衬底(1)上;
——n型GaN层(3)设置于所述的缓冲层(2)上;
——n型AlGaN层(4)设置于所述的n型GaN层(3)上;
——量子阱(5)设置于所述的n型AlGaN层(4)上;
——p型AlGaN层(6)设置于所述的量子阱(5)上;
——p型GaN层(7)设置于所述的p型AlGaN层(6)上;
——n型GaN薄层(8)设置于所述的p型GaN层(7)上;
——ZnO基电流扩展层(9)设置于所述的n型GaN薄层(8)上;
——电极金属(12)设置于所述的n型GaN层(3)的台阶上和所述的ZnO基电流扩展层(9)上;
——钝化层(13)覆盖于所述的n型GaN层(3)台阶上除电极金属(12)之外的区域和所述的ZnO基电流扩展层(9)上。
2.根据权利要求1所述的ZnO基透明电极发光二极管,其特征在于所述的n型GaN薄层(8)的厚度为1~20nm,电阻率为10-4~10-3Ω·cm。
3.根据权利要求1所述的ZnO基透明电极发光二极管,其特征在于所述的ZnO基电流扩展层(9)为B、Al、Ga或In掺杂的ZnO薄膜,厚度为100~400nm,电阻率为10-4~10-3Ω·cm。
4.制备如权利1要求所述的ZnO基透明电极发光二极管的方法,包括如下步骤:
1) 采用金属有机化学气相沉积法在蓝宝石衬底(1)上依次逐层生长缓冲层(2)、n型GaN层(3)、n型AlGaN层(4),量子阱(5)、p型AlGaN层(6)、p型GaN层(7)、n型GaN薄层(8),得到外延片;
2) 对外延片进行清洗;
3) 在外延片上沉积ZnO基电流扩展层(9);
4) 退火处理;
5) 对ZnO基电流扩展层(9)实施光刻,形成ZnO薄膜覆盖的p电极区域(10);
6) 在n型GaN层(3)上刻蚀台阶(11);
7)在ZnO基电流扩展层(9)和n型GaN层(3)的台阶上依次沉积电极金属(12)和钝化层(13),所述的钝化层(13)覆盖在电极金属(12)之上;
8) 刻蚀露出电极金属(12),制得ZnO基透明电极发光二极管。
5.根据权利要求4所述的ZnO基透明电极发光二极管的制备方法,其特征在于所述的n型GaN薄层(8)的厚度为1~20nm,电阻率为10-4~10-3Ω·cm。
6.根据权利要求4所述的ZnO基透明电极发光二极管的制备方法,其特征在于所述的ZnO基电流扩展层(9) 为B、Al、Ga或In掺杂的ZnO薄膜,厚度为100~400nm,电阻率为10-4~10-3Ω·cm。
7.根据权利要求4所述的ZnO基透明电极发光二极管的制备方法,其特征在于所述的步骤3)中沉积ZnO基电流扩展层(9)的方法为电子束蒸发、磁控溅射或脉冲激光沉积。
8.根据权利要求4所述的ZnO基透明电极发光二极管的制备方法,其特征在于所述的步骤4)中退火处理的气氛为真空、氩气或氮气,退火温度为500~900℃,退火时间为1~40分钟。
9.根据权利要求4所述的ZnO基透明电极发光二极管的制备方法,其特征在于所述的步骤5)中的光刻腐蚀液为盐酸、硝酸、硫酸、氨水、氢氧化钠溶液或氢氧化钾溶液。
10.根据权利要求4所述的ZnO基透明电极发光二极管的制备方法,其特征在于所述的步骤6)中刻蚀方法为电感耦合等离子体刻蚀或反应离子刻蚀;所述的步骤7)中沉积电极金属的方法为电子束蒸发或热蒸发。
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