[发明专利]带有栅压调制功能的超薄封装微流体系统及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201210109492.9 申请日: 2012-04-13
公开(公告)号: CN102631957A 公开(公告)日: 2012-08-15
发明(设计)人: 庄虔伟;孙伟强;李刚;冮鑑;许胜勇 申请(专利权)人: 北京大学
主分类号: B01L3/00 分类号: B01L3/00
代理公司: 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 代理人: 关畅
地址: 100871 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 带有 调制 功能 超薄 封装 流体 系统 及其 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种微流体系统,由上至下依次为保护层、顶栅压电极层、膜封装层、微米通道层、测试电极层、绝缘层、底栅压电极层、基底和固定插管基座,且所述膜封装层、微米通道层和绝缘层形成微米通道腔,所述测试电极层位于所述微米通道腔的内底部,所述固定插管基座与注入管配伍,且所述注入管与所述微米通道腔相通。

2.根据权利要求1所述的系统,其特征在于:构成所述保护层和基底的材料均为玻璃;

构成所述固定插管基座的材料为PDMS;

构成所述顶栅压电极层和底栅压电极层的材料均为Cr;

构成所述绝缘层的材料为SOG胶;

构成所述测试电极层的材料为Cr薄膜层和Au薄膜层,且所述Cr薄膜层位于所述Au薄膜层之下;

构成所述微米通道层的材料为SU-8负胶;

构成所述膜封装层的材料为聚酯薄膜。

3.根据权利要求1或2所述的系统,其特征在于:所述固定插管基座的厚度为5mm;

所述顶栅压电极层和底栅压电极层的厚度均为40-60纳米,优选50纳米;

所述绝缘层的厚度为190-210nm,优选200nm;

所述测试电极层中,Cr薄膜层和Au薄膜层的厚度均为45-55纳米,优选均为50纳米;

所述微米通道层的厚度为23-27μm,优选25μm;

所述膜封装层的厚度为200μm。

4.一种制备权利要求1-3任一所述微流体系统的方法,包括如下步骤:

1)在基底上制备底栅压电极层;

2)在所述步骤1)制备得到的底栅压电极层上制备一层绝缘层,并在所述绝缘层之上制备一层测试电极层;

3)在所述步骤2)制备得到的测试电极层上制备一层微米通道层,并在微米通道层的两端打孔,并制备固定插管基座;

4)在膜封装层上制备顶栅压电极层;

5)在所述步骤3)制备得到的微米通道层上用所述步骤4)所述膜封装层进行封装,并在其上用保护层覆盖固定;

6)在所述步骤3)所得固定插管基座上插管得到所述微米流体系统。

5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于:构成所述保护层、顶栅压电极层、膜封装层、微米通道层、测试电极层、绝缘层、底栅压电极层、基底和固定插管基座的材料均与权利要求2相同;

所述保护层、顶栅压电极层、膜封装层、微米通道层、测试电极层、绝缘层、底栅压电极层、基底和固定插管基座的厚度均与权利要求3相同。

6.根据权利要求4或5所述的方法,其特征在于:所述步骤1)制备底栅压电极层的方法包括:在所述基底上制备光刻胶层后,干燥,利用掩膜板进行紫外曝光,显影后,溅射一层Cr薄膜层,剥离后得到所述底栅压电极层;

所述步骤2)中制备一层绝缘层的方法包括:用旋涂法旋涂一层SOG胶后退火;

所述步骤2)中在所述绝缘层之上制备一层测试电极层的方法包括:在所述绝缘层上制备一层光刻胶层,干燥后,利用掩膜板进行紫外曝光,显影后,先溅射一层Cr薄膜层,再溅射一层Au薄膜层,剥离后得到所述测试电极层;

所述步骤4)制备顶栅压电极层的方法包括:在所述膜封装层上制备光刻胶层后,干燥,利用掩膜板进行紫外曝光,显影后,溅射一层Cr薄膜层,剥离后得到所述顶栅压电极层。

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