[发明专利]太阳能电池片、硅片背面光学检测系统有效

专利信息
申请号: 201210110136.9 申请日: 2012-04-16
公开(公告)号: CN103376197A 公开(公告)日: 2013-10-30
发明(设计)人: 肖长力;杨广;鲁乾坤;赵润川;杨铁成;王利顺;惠施;徐维军;李波 申请(专利权)人: 苏州中导光电设备有限公司
主分类号: G01M11/00 分类号: G01M11/00;G01N21/88
代理公司: 昆山四方专利事务所 32212 代理人: 盛建德
地址: 215311 江苏省苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 太阳能电池 硅片 背面 光学 检测 系统
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种太阳能电池片、硅片检测系统,特别涉及一种太阳能电池片、硅片片背面光学检测系统。

背景技术

在太阳能硅片或者电池片的在线光学检测中,由于电池片放置于传输机构上,使得一些检测无法进行,比如AOI的背面检测,再比如红外的检测需要红外光从电池片下方照射,透过电池片成像,在两种情况下,由于皮带的存在使得电池片部分区域无法被检测。目前常见的作法:1.不检测背面;2.对电池片、硅片进行翻转,而翻转的方法容易损害电池片、硅片。

发明内容

为了弥补以上不足,本发明提供了一种太阳能电池片、硅片背面光学检测系统,该太阳能电池片、硅片背面光学检测系统通过非接触的方式对电池片、硅片进行背面光学检测,检测效率高,不损伤电池片、硅片。

本发明为了解决其技术问题所采用的技术方案是:一种太阳能电池片、硅片背面光学检测系统,包括机架、传送机构、第一、二拨动机构、成像装置和处理器,所述传送机构能够带动硅片直线运动定位于机架上,第一、二拨动机构沿传送机构运动方向依次固定于机架上,第一、二拨动机构能够将硅片沿垂直其运动方向拨动设定距离,所述第一、二拨动机构拨动方向相反,成像装置分别对应第一、二拨动机构固定于传送机构正上方的机架上,成像装置能够分别对经过第一、二拨动机构拨动的电池片、硅片成像,成像装置能够将成像的数据输出给处理器,所述机架位于传送机构正下方设有光源,光源发光照射传送机构上的电池片、硅片,成像装置分别对经过光源照射的电池片、硅片成像,在电池片、硅片进入到成像装置的成像区位置之前,第一拨动机构拨动电池片、硅片使其发生偏移,成像装置采集该电池片、硅片图像,然后第二拨动机构拨动其复位,再采集第二幅该电池片、硅片图像,经过第一、二拨动机构拨动的电池片、硅片被传送机构遮挡的位置不同,在成像装置上恰呈错位的状态,这样经过两次成像将传送机构的遮挡位置错开,这样就完全呈现出电池片、硅片所有位置的图像信息,使得电池片、硅片任意位置都得到精确的检测,确保检测精确度。

作为本发明的进一步改进,所述第一、二拨动机构结构对称,包括气缸、拨动架和拨动块,气缸固定于机架上,拨动架能够沿垂直传送机构运动方向滑动定位于机架上,气缸的活塞杆与拨动架固连,拨动块固定于拨动架上,一对拨动块恰止挡于电池片、硅片垂直其运动方向的两侧,气缸的活塞杆通过拨动架带动拨动块沿垂直硅片运动方向运动实现了硅片的偏位拨动。

作为本发明的进一步改进,所述成像装置为相机。

作为本发明的进一步改进,所述被检测电池片、硅片恰完全遮挡光源的全部光线,采用利用电池片、硅片自身的尺寸遮挡光源,避免电池片、硅片边缘曝光太强。

本发明的有益技术效果是:本发明通过对不同位置的电池片、硅片分别成像,实现了全面检测,检测精度高,检测效率高,非接触式检测模式,避免了电池片、硅片的损伤,降低了不良率,确保了检测精度。

附图说明

图1为本发明的主视图;

图2为本发明的左视图;

图3为发明的俯视图;

图4为发明的立体图;

图5为本发明的光照原理图。

具体实施方式

实施例:一种太阳能电池片、硅片背面光学检测系统,包括机架1、传送机构2、第一、二拨动机构3、4、成像装置5和处理器,所述传送机构2能够带动电池片、硅片直线运动定位于机架1上,第一、二拨动机构3、4沿传送机构运动方向依次固定于机架1上,第一、二拨动机构3、4能够将电池片、硅片7沿垂直其运动方向拨动设定距离,所述第一、二拨动机构3、4拨动方向相反,成像装置5分别对应第一、二拨动机构3、4固定于传送机构2正上方的机架1上,成像装置能够分别对经过第一、二拨动机构3、4拨动的电池片、硅片成像,成像装置能够将成像的数据输出给处理器,所述机架1位于传送机构2正下方设有光源6,光源6发光照射传送机构上的电池片、硅片,成像装置分别对经过光源6照射的电池片、硅片7成像,在电池片、硅片7进入到成像装置的成像区位置之前,第一拨动机构3拨动硅片使其发生偏移,成像装置采集该硅片图像,然后第二拨动机构4拨动其复位,再采集第二幅该电池片、硅片7图像,经过第一、二拨动机构3、4拨动的电池片、硅片被传送机构2遮挡的位置不同,在成像装置上恰呈错位的状态,这样经过两次成像将传送机构2的遮挡位置错开,这样就完全呈现出电池片、硅片7所有位置的图像信息,使得电池片、硅片任意位置都得到精确的检测,确保检测精确度。

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