[发明专利]一种测量电容值的方法和设备

权利要求书

1.一种测量电容值的方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：

接收原始信号(401)；

使用电阻(R)和采样电容(C)组成的调制模块对所述原始信号的相位进行调制，得到目标信号，其中，所述采样电容(C)的一端与所述电阻(R)相连，另一端接地(402)；

比较所述原始信号和所述目标信号的相位，得到所述原始信号和目标信号的相位差(403)；

根据所述相位差计算所述采样电容(C)的值(404)。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，

所述电阻(R)和采样电容(C)组成的调制模块为一阶RC网络。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述采样电容(C)的与所述电阻(R)相连的一端为静止极，所述接地的一端为旋转极。

4.根据权利要求1至3任一项所述的方法，其特征在于，所述原始信号为正弦激励信号，所述原始信号的频率等于所述目标信号的频率。

5.根据权利要求1至3任一项所述的方法，其特征在于，进一步包括：对所述原始信号和目标信号进行滤波和采样。

6.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，根据所述相位差计算所述采样电容(C)的值(404)包括：

根据所述相位差计算所述一阶RC网络的时间常数(T)，根据公式计算所述采样电容的值。

7.一种测量电容值的设备，其特征在于，该设备包括：测量电路(21)、相位检测电路(22)和电容值计算电路(23)；其中，

所述测量电路(21)，用于接收原始信号，将所述原始信号分为两路，将其中一路原始信号输出到所述相位检测电路(22)，利用电阻(R)和采样电容(C)组成的调制模块(311)

对另一路原始信号的相位进行调制，得到目标信号，并将所述目标信号输出到所述相位检测电路(22)；其中，所述采样电容(C)的一端与所述电阻(R)相连，另一端接地；

所述相位检测电路(22)，用于比较所述原始信号和目标信号的相位，得到所述原始信号和目标信号的相位差；

所述电容值计算电路(23)，用于从所述相位检测电路(22)获取所述相位差，根据所述相位差计算所述采样电容(C)的值。

8.根据权利要求7所述的设备，其特征在于，所述电阻(R)和采样电容(C)组成的调制模块(311)为一阶RC网络。

9.根据权利要求7所述的设备，其特征在于，所述采样电容(C)的与所述电阻(R)相连的一端为静止极，所述接地的一端为旋转极。

10.根据权利要求7至9任一项所述的设备，其特征在于，所述原始信号为正弦激励信号，所述原信号的频率等于所述目标信号的频率。

11.根据权利要求7至9任一项所述的设备，其特征在于，所述测量电路(21)进一步包括：滤波和采样模块(312)，用于对所述原始信号和目标信号进行滤波和采样，并将经滤波和采样处理的原始信号和目标信号输出到所述相位检测电路(22)。

12.根据权利要求8所述的设备，其特征在于，所述电容值计算电路(23)，进一步用于根据所述相位差计算所述一阶RC网络的时间常数(T)，根据公式计算所述采样电容的值。

13.一种计算机程序产品，特征在于，包括计算机程序代码，当一个计算机单元运行该计算机程序代码时，执行如权利要求1至6任一项所述的步骤。

14.一种可读电子存储介质，其特征在于，用于存储如权利要求13所述的计算机程序代码。