[发明专利]用于局部电接触半导体结构的金属结构的制造方法无效
申请号: | 201210111842.5 | 申请日: | 2012-04-16 |
公开(公告)号: | CN102738297A | 公开(公告)日: | 2012-10-17 |
发明(设计)人: | S·克劳斯卡;F·格拉内克;A·费尔 | 申请(专利权)人: | 弗劳恩霍弗实用研究促进协会 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18 |
代理公司: | 北京派特恩知识产权代理事务所(普通合伙) 11270 | 代理人: | 武晨燕;张颖玲 |
地址: | 德国*** | 国省代码: | 德国;DE |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 局部 接触 半导体 结构 金属结构 制造 方法 | ||
1.一种用于局部电接触半导体结构的金属结构(4a)的制造方法,其中,所述半导体结构为太阳能光伏电池或太阳能光伏电池的前体,并且具有至少一个半导体层,所述方法包括下列步骤:
步骤a,在半导体层上涂覆至少一层电绝缘的隔离层(2,2a);
步骤b,在隔离层上涂覆至少一层分离层(3,3a);
步骤c,在分离层上形成局部开口;
步骤d,在隔离层上形成局部开口;
步骤e,至少部分地在分离层(3,3a)上涂覆至少一层金属层,并且在分离层(3,3a)以及隔离层(2,2a)的局部开口区域内的半导体层上涂覆至少一层金属层;
步骤f,剥离分离层;
其中,有时可在步骤a和/或步骤b之前涂覆另外的中间层,其特征在于,步骤c和d合并为一个步骤CD,并且在步骤CD中通过材料剥蚀的方法,同时在分离层(3,3a)和隔离层(2,2a)上形成局部开口。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在步骤CD中,借助激光束在分离层(3,3a)以及隔离层(2,2a)上形成局部开口。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,借助激光化学处理(LCP)方法形成局部开口,并且另通过LCP在半导体层(1)的局部开口区域构造局部掺杂区域。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,借助LCP在半导体层(1)内构造至少两个掺杂类型相反的掺杂区域。
5.根据上述权利要求中任一项所述的方法,其特征在于,在步骤e中,借助定向金属化工艺涂覆金属层(4),其中,优选金属化工艺的分离方向几乎与分离层(3,3a)的表面垂直。
6.根据上述权利要求中任一项所述的方法,其特征在于,在步骤f中,通过湿化学方法剥离分离层(3,3a)。
7.根据上述权利要求中任一项所述的方法,其特征在于,在步骤f中,通过热学方法剥离分离层(3,3a),优选采用热湿化学法。
8.根据权利要求1至5中任一项所述的方法,其特征在于,在步骤f中,通过机械方法剥离分离层(3,3a)。
9.根据权利要求8所述的方法,其特征在于,在步骤b中涂覆可剥离的分离层(3,3a),其中,在步骤f中通过机械方法剥离所述分离层(3,3a)。
10.根据权利要求9所述的方法,其特征在于,在步骤b中涂覆薄膜状的分离层(3,3a),优选以薄膜状涂覆所述分离层(3,3a),以及/或者通过涂覆可自我固化的物质,尤其是胶泥,形成所述薄膜状的分离层(3,3a)。
11.根据上述权利要求中任一项所述的方法,其特征在于,在步骤CD中或在步骤CD后,通过半导体层(1)内的材料剥蚀,大致在隔离层(2,2a)的局部开口区域内形成凹坑,所述凹坑的深度优选大于30微米,最好大于50微米,进一步优选为大于75微米,尤其是50至100微米之间。
12.根据权利要求11所述的方法,其特征在于,所述凹坑至少具有一个与半导体层(1)表面斜切的侧面,优选凹坑的纵向与半导体层(1)表面斜切,与所述表面之间的角度尤其在30度至60度之间。
13.根据权利要求8至10中任一项以及至少根据权利要求12所述的方法,其特征在于,这样来构造所述凹坑,使其第一斜面与半导体层(1)表面之间呈钝角,第二斜面与半导体层(1)表面之间呈锐角,并且在步骤f中,这样通过机械方法将分离层(3,3a)与半导体层(1)剥离,使得首先在第一平面与半导体表面的交界处将分离层(3,3a)剥离,然后在第二平面与半导体表面的交界处将分离层(3,3a)剥离,或者,在步骤f中,这样通过机械方法将分离层(3,3a)与半导体层(1)剥离,并且分离层(3,3a)的剥离方向基本与凹坑线型纵深的方向平行。
14.根据权利要求9至13中任一项所述的方法,其特征在于,在步骤e中,借助非定向工艺,优选借助丝印工艺,涂覆所述金属层(4)。
15.根据上述权利要求中任一项所述的方法,其特征在于,在步骤f后,对所述金属层进行强化,特别是电镀强化。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于弗劳恩霍弗实用研究促进协会,未经弗劳恩霍弗实用研究促进协会许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201210111842.5/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的