[发明专利]发光材料的发光性质复合检测方法及装置无效
申请号: | 201210113066.2 | 申请日: | 2012-04-18 |
公开(公告)号: | CN102680433A | 公开(公告)日: | 2012-09-19 |
发明(设计)人: | 黄伟其 | 申请(专利权)人: | 贵州大学 |
主分类号: | G01N21/63 | 分类号: | G01N21/63;G01N21/66 |
代理公司: | 贵阳中新专利商标事务所 52100 | 代理人: | 李亮;程新敏 |
地址: | 550025 贵州省贵*** | 国省代码: | 贵州;52 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 发光 材料 性质 复合 检测 方法 装置 | ||
1.一种发光材料的发光性质复合检测方法,其特征在于:采用电极探针接触样品正面的微区结构和样品台导电板,对样品进行电泵浦,通过电极探针在样品正面的微区结构作定位注入载流子,使样品激发电致发光;同时采用激光作光源照射样品的微区结构,对样品进行光泵浦,通过光源入射或光纤定位导入光子,使样品激发光致发光;利用反射镜收集样品电致发光的光子与光致发光的光子,再通过光路送入光栅分光仪中,从而实现同时对样品进行电致发光和光致发光的复合检测。
2.根据权利要求1所述的发光材料的发光性质复合检测方法,其特征在于:利用光学显微镜调控电极探针与激发光的微区定位操作。
3.一种采用权利要求1所述的发光材料的发光性质复合检测方法的复合检测装置,包括样品台(1),其特征在于:在样品台(1)上设有样品台导电板(2),在样品台导电板(2)上连接有负极导电探针(3-1),在样品台导电板(2)上方设有正极导电探针(3-2),在正极导电探针(3-2)的上方设有LD光源(7),在样品台(1)上方的一侧设有反射镜(4),在样品台(1)的另一侧设有与反射镜(4)对应的光路(5),在光路(5)上连接有光栅分光仪(6)。
4.根据权利要求3所述的复合检测装置,其特征在于:在正极导电探针(3-2)的设有用于替代LD光源(7)、反射镜(4)及光路(5)的双向光纤(8),双向光纤(8)与光栅分光仪(6)连接。
5.根据权利要求3或4所述的复合检测装置,其特征在于:在正极导电探针(3-2)上方设有光学显微镜(9),在样品台(1)上设有样品台微动器(10)。
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