[发明专利]循迹控制装置和循迹控制方法无效
申请号: | 201210113314.3 | 申请日: | 2012-04-17 |
公开(公告)号: | CN102750960A | 公开(公告)日: | 2012-10-24 |
发明(设计)人: | 堀田彻;林善雄 | 申请(专利权)人: | 三洋电机株式会社;三洋光学设计株式会社 |
主分类号: | G11B7/09 | 分类号: | G11B7/09 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 控制 装置 方法 | ||
1.一种循迹控制方法,是光拾取装置的循迹控制方法,该光拾取装置具备对从设置在光盘上的信号记录层反射的返回光进行受光的四分割传感器,并且具备使物镜在光盘的径向上位移的循迹线圈,该循迹控制方法的特征在于,
通过推挽信号生成电路根据从上述四分割传感器得到的信号生成在推挽方式中使用的循迹误差信号;
通过物镜偏倚电压检测电路对为了使物镜偏倚而提供给上述循迹线圈的直流电压进行检测,
通过偏移校正信号生成电路根据通过该物镜偏倚电压检测电路检测出的直流电压来生成偏移校正信号,
其中,利用从上述偏移校正信号生成电路输出的偏移校正信号对从上述推挽信号生成电路输出的循迹误差信号的偏移进行校正。
2.根据权利要求1所述的循迹控制方法,其特征在于,
通过偏移校正信号生成电路生成大小与通过物镜偏倚电压检测电路检测出的直流电压的大小对应的偏移校正信号。
3.根据权利要求1所述的循迹控制方法,其特征在于,
当通过物镜偏倚电压检测电路检测出的直流电压的大小大于规定值时,从偏移校正信号生成电路输出偏移校正信号。
4.根据权利要求3所述的循迹控制方法,其特征在于,
上述规定值的大小为产生对循迹控制动作带来障碍的偏移量的大小。
5.一种循迹控制装置,是光拾取装置的循迹控制装置,该光拾取装置具备对从设置在光盘上的信号记录层反射的返回光进行受光的四分割传感器,并且具备使物镜在光盘的径向上位移的循迹线圈,该循迹控制装置的特征在于,具备:
推挽信号生成电路,其根据从上述四分割传感器得到的信号生成在推挽方式中使用的循迹误差信号;
物镜偏倚电压检测电路,其对为了使物镜偏倚而提供给上述循迹线圈的直流电压进行检测;以及
偏移校正信号生成电路,其根据通过该物镜偏倚电压检测电路检测出的直流电压来生成偏移校正信号,
其中,利用从上述偏移校正信号生成电路输出的偏移校正信号对从上述推挽信号生成电路输出的循迹误差信号的偏移进行校正。
6.根据权利要求5所述的循迹控制装置,其特征在于,
通过偏移校正信号生成电路生成大小与通过物镜偏倚电压检测电路检测出的直流电压的大小对应的偏移校正信号。
7.根据权利要求5所述的循迹控制装置,其特征在于,
当通过物镜偏倚电压检测电路检测出的直流电压的大小大于规定值时,从偏移校正信号生成电路输出偏移校正信号。
8.根据权利要求7所述的循迹控制装置,其特征在于,
上述规定值的大小为产生对循迹控制动作带来障碍的偏移量的大小。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于三洋电机株式会社;三洋光学设计株式会社,未经三洋电机株式会社;三洋光学设计株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201210113314.3/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:切削刃由凹部隔开的切削刀片以及装有该切削刀片的铣刀
- 下一篇:藻酸盐基质颗粒