[发明专利]一种新型的GaN基发光二极管器件及其制作方法无效

专利信息
申请号: 201210114535.2 申请日: 2012-04-17
公开(公告)号: CN103378241A 公开(公告)日: 2013-10-30
发明(设计)人: 郝锐;马学进;吴质朴 申请(专利权)人: 江门市奥伦德光电有限公司
主分类号: H01L33/06 分类号: H01L33/06;H01L33/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 529000 广*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 新型 gan 发光二极管 器件 及其 制作方法
【权利要求书】:

1.一种新型的GaN基发光二极管结构,其中包括:依次层叠的衬底、第一种半导体载流子注入层、多量子阱结构、多量子阱结构的最后一个量子垒(LQB)及第二种半导体载流子注入层,所述多量子阱结构的最后一个量子垒(LQB)为多层或多组分复合结构,所述最后一个量子垒为一层或多层GaN类及其合金材料的外延结构。

2.如权利要求1所述的发光二极管结构,其特征在于:所述多量子阱结构的最后一个量子垒(LQB)为多层复合结构。

3.如权利要求1所述的发光二极管结构,其特征在于:所述最后一个量子垒的GaN类合金材料为AlGaN、InGaN、AlInGaN中的一种和几种。

4.如权利要求1所述的发光二极管结构,其特征在于:最后一个量子垒层结构为InxGa1-xN层叠加p型GaN层的复合结构。

5.如权利要求1所述的发光二极管结构,其特征在于:最后一个量子垒层结构为InxGa1-xN层叠加AlyGa1-yN层的复合结构。

6.权利要求1所述的发光二极管结构,其特征在于:最后一个量子垒层结构为InxGa1-xN层叠加p型GaN层,再叠加AlyGa1-yN层的复合结构。

7.权利要求1所述的发光二极管结构,其特征在于:最后一个量子垒层结构为InxGa1-xN层叠加GaN层,再叠加p型GaN层的复合结构。

8.一种如权利1所述的发光二极管结构的制作方法,其特征在于:在制作好的N型氮化镓半导体层后,采用MOCVD方法,包括如下生长步骤:

(1)生长GaN层:将生长温度设定在700-900℃,反应器的压力为100-500Tor,通入10-60L的高纯氨气和10-90L的高纯氮气,通入流量为10-600sccm的TEG,生长时间为20-600s;

(2)生长InGaN层:将生长温度设定在700-900℃,反应器的压力为 100-500Tor,通入10-60L的高纯氨气和10-90L的高纯氮气,通入流量为10-600sccm的TEG,还通入流量为10-600sccm的TMIn,生长时间为20-600s;

(3)重复以上步骤(1)和(2)形成一个量子阱周期,生长3-15个周期的量子阱;

(4)完成最后一个量子阱的生长后,将生长温度设定在700-900℃,反应器的压力为100-500Tor,通入10-60L的高纯氨气和10-90L的高纯氮气,通入流量为10-600sccm的TEG,通入流量为0-600sccm的TMIn,通入流量为0-1000sccm的二茂镁,通入流量为0-300sccm的TMA,生长多层或多组分复合结构的最后一个量子垒外延层。生长完成整个多量子阱结构后继续制作发光二极管其他部分。 

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