[发明专利]非接触式磁性颗粒检查设备

权利要求书

1.一种非接触式磁性颗粒检查设备(2)，包括：

测试物品支承和操纵系统(34)，其包括沿着第一轴线延伸的第一轨道(38)、沿着所述第一轴线延伸的第二轨道(39)，以及沿着第二轴线延伸的第三轨道(70)，所述第三轨道(70)具有通过中间部分(43，49，74)延伸到第二端(42，48，73)的第一端(41，47，72)，所述第一端(41，47，72)安装到所述第一轨道(38)上，而所述第二端(42，48，73)安装到所述第二轨道(39)上；以及

安装到所述第三轨道(70)上的安装夹具(90)，所述安装夹具(90)包括测试物品安装系统(93)和测试物品定向系统(95)，所述测试物品定向系统(95)构造成和设置成在磁场(25)内选择性地操纵测试物品(114)。

2.根据权利要求1所述的非接触式磁性颗粒检查设备(2)，其特征在于，所述测试物品定向系统(95)构造成和设置成绕着所述第一轴线和所述第二轴线中的一个旋转测试物品(114)。

3.根据权利要求1所述的非接触式磁性颗粒检查设备(2)，其特征在于，所述测试物品定向系统(95)构造成和设置成绕着第三轴线旋转所述测试物品(114)，所述第三轴线与所述第一轴线和所述第二轴线正交。

4.根据权利要求1所述的非接触式磁性颗粒检查设备(2)，其特征在于，所述测试物品定向系统(95)构造成和设置成绕着所述第一轴线和所述第二轴线中的各个以及绕着第三轴线旋转测试物品(114)，所述第三轴线与所述第一轴线和所述第二轴线正交。

5.根据权利要求1所述的非接触式磁性颗粒检查设备(2)，其特征在于，所述第三轨道(70)构造成和设置成沿着所述第一轴线平移。

6.根据权利要求1所述的非接触式磁性颗粒检查设备(2)，其特征在于，所述安装夹具(90)构造成和设置成沿着所述第二轴线平移。

7.一种非接触式磁性颗粒检查设备(2)，包括：

包括测试区(18)的测试床(4)；

定位在所述测试区(18)中的磁场发生器(25)；

测试物品支承和操纵系统(34)支承在所述测试区(18)中，所述测试物品支承和操纵系统(34)包括在所述磁场发生器(25)的第一侧旁边沿着第一轴线延伸的第一轨道(38)、在所述磁场发生器(25)的第二侧旁边沿着所述第一轴线延伸的第二轨道(39)，以及沿着第二轴线延伸通过所述磁场发生器(25)的开口的第三轨道(70)，所述第三轨道(70)具有通过中间部分(43，49，74)延伸到第二端(42，48，73)的第一端，所述第一端(41，47，72)安装到所述第一轨道(38)上，而所述第二端(42，48，73)安装到所述第二轨道(39)上；以及

安装到所述第三轨道(70)上的安装夹具(90)，所述安装夹具(90)包括测试物品安装系统(93)和测试物品定向系统(95)，所述测试物品定向系统(95)构造成和设置成在所述磁场发生器(25)内选择性地操纵测试物品(114)。

8.根据权利要求7所述的非接触式磁性颗粒检查设备(2)，其特征在于，所述测试物品定向系统(95)构造成和设置成绕着所述第一轴线和所述第二轴线中的一个旋转测试物品(114)。

9.根据权利要求7所述的非接触式磁性颗粒检查设备(2)，其特征在于，所述测试物品定向系统(95)构造成和设置成绕着第三轴线旋转所述测试物品(114)，所述第三轴线与所述第一轴线和所述第二轴线正交。

10.根据权利要求7所述的非接触式磁性颗粒检查设备(2)，其特征在于，所述测试物品定向系统(95)构造成和设置成绕着所述第一轴线和所述第二轴线中的各个以及绕着第三轴线旋转测试物品(114)，所述第三轴线与所述第一轴线和所述第二轴线正交。